氣內(nèi)測校（通孔）QCSN-B型φ3~φ150mm每套氣內(nèi)測校含上下限校對規(guī)及氣內(nèi)測頭各1支。與MQF浮標(biāo)式氣動量儀配套，用作一般形式的通孔測量。被測孔長度：>6.5 mm&sp;氣內(nèi)測校使用方法
測量頭的標(biāo)準(zhǔn)件是上、下限校對規(guī)（環(huán)規(guī)）各一個，用來校正量儀的倍率。測量時，將測量頭被測孔內(nèi)，量儀指示的數(shù)值為被測孔內(nèi)徑的誤差值。如果將測量頭沿被測孔作軸向移動，量儀指示的差值為孔在移動范圍內(nèi)的錐度。如果測量頭在被測孔內(nèi)作相對轉(zhuǎn)動，則可測得被測孔的圓度。&sp;
說明：因本產(chǎn)品按客戶要求制作，所標(biāo)注價格及運費供參考，具體價格雙方商議
測量頭的標(biāo)準(zhǔn)件是上、下限校對規(guī)（環(huán)規(guī)）各一個，用來校正量儀的倍率。測量時，將測量頭被測孔內(nèi)，量儀指示的數(shù)值為被測孔內(nèi)徑的誤差值。如果將測量頭沿被測孔作軸向移動，量儀指示的差值為孔在移動范圍內(nèi)的錐度。如果測量頭在被測孔內(nèi)作相對轉(zhuǎn)動，則可測得被測孔的圓度。&sp;
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