特點(diǎn):
經(jīng)典消光法橢偏測量原理
儀器采用消光法橢偏測量原理,易于操作者理解和掌握橢偏測量基本原理和過程。
方便安全的樣品水平放置方式
緊湊的一體化結(jié)構(gòu)
高穩(wěn)定性光源
豐富實(shí)用的樣品測量功能
便捷的自動(dòng)化操作
安全的用戶使用權(quán)限管理
可擴(kuò)展的儀器功能
應(yīng)用領(lǐng)域:
EX3適合于教學(xué)中單層納米薄膜的薄膜厚度測量,也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。EX3可測量的樣品涉及微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、化學(xué)、電化學(xué)、磁質(zhì)存儲(chǔ)、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領(lǐng)域。技術(shù)指標(biāo):
項(xiàng)目 | 技術(shù)指標(biāo) |
儀器型號(hào) | EX3 |
測量方式 | 自動(dòng)測量 |
樣品放置方式 | 水平放置 |
光源 | 半導(dǎo)體激光器,波長635nm |
膜厚測量重復(fù)性* | 0.5nm (對(duì)于Si基底上100nm的SiO2膜層) |
膜厚范圍 | 透明薄膜:1-4000nm吸收薄膜則與材料性質(zhì)相關(guān) |
折射率范圍 | 1.3 – 10 |
探測光束直徑 | Φ2-3mm |
入射角度 | 30°-90°,0.05° |
偏振器方位角讀數(shù)范圍 | 0-360° |
偏振器步進(jìn)角 | 0.014° |
樣品方位調(diào)整 | Z軸高度調(diào)節(jié):16mm二維俯仰調(diào)節(jié):±4° |
允許樣品尺寸 | 圓形樣品直徑Φ120mm,矩形樣品可達(dá)120mm x 160mm |
配套軟件 | * 用戶權(quán)限設(shè)置* 多種測量模式選擇* 多個(gè)測量項(xiàng)目選擇* 方便的數(shù)據(jù)分析、計(jì)算、輸入輸出 |
外形尺寸 | (入射角度70°時(shí))450*375*260mm |
儀器重量(凈重) | 15Kg |
性能保證:
- ISO9001國際質(zhì)量體系下的儀器質(zhì)量保證
- 的儀器使用培訓(xùn)
- 的橢偏測量原理課程