硬件獨(dú)特性:雙屏顯示設(shè)計(jì)，造型時(shí)尚，帶多節(jié)點(diǎn)預(yù)啟動裝置和實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)；已集成計(jì)算機(jī)，無需再外接電腦，計(jì)算機(jī)采用觸屏設(shè)計(jì)，操作流暢便捷；加裝自動防輻射泄漏裝置，主動性的保證使用人員安全；內(nèi)置打印機(jī)，計(jì)算方便快捷；獨(dú)具短信報(bào)錯(cuò)功能，操作是否符合規(guī)范一目了然；超高的分辨率可輕松解決貴金屬行業(yè)無損分析的任何復(fù)雜要求，為貴金屬行業(yè)性價(jià)比的光譜儀。（咨詢廖）

軟件優(yōu)越性：XRF8.0菜單式軟件，帶硬件參數(shù)調(diào)整和數(shù)據(jù)評估及計(jì)算系統(tǒng)；軟件除能顯示金屬百分比純度外，亦可顯示黃金K值；軟件可自動重復(fù)檢測，自動測算多次檢測的均值；計(jì)算的打印格式多樣化，完全滿足客戶各種形式的打印要求。

激發(fā)源：Mo靶的X光管 風(fēng)冷 (無輻射）

探測器：Si-PIN 探測器(美國) 

高壓裝置：美國進(jìn)口高壓裝置

其它規(guī)格：

電壓：交流220V/50Hz
功率:144W
處尺寸:430mm*635mm*310mm
重量:21kg

技術(shù)指標(biāo)：

分析范圍：0.001% ～ 99.999%
測量時(shí)間：自適應(yīng)
測量：± 10ppm ～ 0.1%

分辨率  ：149Kev ± 5
測試環(huán)境：常溫常態(tài)
分析元素：除貴金屬常含元素和銥、鋨等鉑族重金屬能全面測試外，該型號還能對從Na至U的70多種元素進(jìn)行分析，實(shí)為貴金屬行業(yè)常量分析中的實(shí)驗(yàn)室級光譜儀。
X射線源：X射線光管
高壓器：0～50Kv
操作系統(tǒng):Windows2000/Me/XP

鍍層測量：

鍍層厚度范圍<30μm
測量層數(shù)：5層
測量：0.03μm