主要特點:
測試頻率20Hz~1MHz,度0.02%
基本量測準(zhǔn)確度:0.1%
3種阻抗輸出模式選擇,測量結(jié)果可與各之LCR表完全對比
增強式圈數(shù)比準(zhǔn)確測量,適用于低磁導(dǎo)率的磁芯
高速LCR量測,快80次/秒
高速DCR量測,快50次 /秒
偏壓電流源直接控制功能
大型LCD顯示(320*240點矩陣)
提供各式標(biāo)準(zhǔn)測試治具及特殊治具訂制
四端測試治具,可得到DCR,電感量和圈數(shù)比穩(wěn)定的測量
型號 |
3302/3252/3282 | ||
主要功能 |
變壓器掃描測試 | ||
變壓器掃描測試 |
圈數(shù)比(Turn Ratio),相位(Phase),圈數(shù)(Turn),電感(L),品質(zhì)因子(Q),漏電感(LK ),平衡(Balance),交流電阻(ACR),電容(Cp),直流電阻(DCR),接腳短路 (Pin Short) | ||
LCR測試 |
LCR測試電感(L),電容(C),電阻(R)阻抗值(|Z|),阻抗的導(dǎo)納(Y),直流電阻(DCR),品質(zhì)因子(Q),損耗因子(D),電阻(R),電抗(X),相位角(θ) | ||
測試信號 | |||
測試電壓 |
Turn |
10 mV~10 V,±10%,10mV/step | |
其它 |
10 mV~2 V,±10%,10mV/step | ||
測試頻率 |
Turn |
1 kHz ~1MHz,±0.02%解析度:0.1Hz | |
其它 |
20Hz ~1MHz,±0.02%解析度:0.1Hz | ||
輸出阻抗 |
Turn |
10Ω, 當(dāng)測試位準(zhǔn)點2V≤50Ω, 當(dāng)測試位準(zhǔn)>2 V | |
其它 |
Constant=OFF:依電阻範(fàn)圍不同而定 | ||
測量顯示範(fàn)圍 | |||
L,LK |
0.00001uH ~ 9999.99H | ||
C |
0.00001pF ~ 999.999mF | ||
Q,D |
0.00001 ~ 99999 | ||
Z,X,R |
0.00001 Ω ~ 99.9999M Ω | ||
Y |
0.01nS ~ 99.9999 S | ||
θ |
-90.00 ~ +90.00 | ||
DCR |
0.01m Ω‘ 0 99.999M Ω | ||
Turn |
0.01 ~ 99999.99 圈 ( 次電壓小於 100 Vrms) | ||
Pin-Short |
11 組 , 接腳與接腳之間 |
型號 |
3302/3252/3282 | ||
L,LK,C,Z,X,Y,R,DCR |
01%(若為AC參數(shù)1KHz) | ||
Q,D |
0.0005(1KHz) | ||
θ |
0.03o(1KHz) | ||
Turn |
0.5%(1KHz) | ||
測試速度(快速度) | |||
L,LK,C,Z,X,Y,R,Q,D,θ |
80meas./sec. | ||
DCR |
50meas./sec. | ||
Turn |
10meas./sec | ||
判定方式 | |||
變壓器掃描測試 |
各測試參數(shù)之良品/不良品判定由選購之處理器界面輸出 | ||
LCR測試 |
10級分類及總合計數(shù)由選購之處理器界面輸出良品/不良品判定由標(biāo)準(zhǔn)處理器界面輸出 | ||
顯示器修正功能 |
320*240點矩陣LCD液晶顯示器 | ||
開路(OPEN),短路(Short)歸堆,負載修正 | |||
記憶體 |
50組儀器設(shè)定,可藉由記憶卡擴充 | ||
等 效電路模式 |
串聯(lián)、并聯(lián) | ||
觸發(fā) |
內(nèi)部,手動,外部 | ||
一般規(guī)格 | |||
環(huán)境條件 |
溫度:10~40o溫度:10%~90%RH | ||
消耗功率 |
140VA | ||
電源 |
90V~125V AC或190V~250V AC 48Hz~62Hz | ||
尺寸(寬*高*深) |
430*180*320 | ||
重量 |
約8.5KG |