技術(shù)參數(shù)

GD-Profiler系列包括2種型號，全部裝備RF射頻光源，每種型號均有多種選配件，用于滿足不同用戶的測試要求和預算。GD-Profiler2可測試多種樣品，有著極高的性價比，GD-Profiler HR是目前商品化的輝光光譜儀中性能的，二者均可分析導體和非導體的固體樣品。廣泛應(yīng)用于傳統(tǒng)的鍍鋅/錫板（彩涂板）、汽車工業(yè)、航空航天、熱處理（滲碳/滲氮）、陶瓷工業(yè)、玻璃工業(yè)以及當前在歐美和日本科研與工業(yè)對半導體電子（液晶面板/硬盤/芯片）、新能源（鋰電池/LED/光伏）研究與分析應(yīng)用可以替代原來只能依賴的SIMS(二次離子質(zhì)譜)或XPS（光電子能譜儀）。與其相比之下GDS做到更高效、更快速、更經(jīng)濟等多方面優(yōu)勢，受到越來越多的科研工作者的認可與青睞，刮起一股從西方到東方席卷的輝光新風尚。
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RF射頻發(fā)生器- 標準配置，符合E級標準，穩(wěn)定性高，濺射束斑極為平坦，等離子體穩(wěn)定時間極短，表面信息無任何失真。
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脈沖工作模式既可分析常見的涂、鍍層和薄膜，也可以很好的分析熱傳導性能差和熱易碎的涂、鍍層和薄膜。
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多道(同時)型光學系統(tǒng)可全譜覆蓋，光譜范圍：110nm至800nm，包含遠紫外，可分析C, H, O, N, Cl
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J Y 的原版離子刻蝕全息光柵保證了儀器有光通量，因而有的光效率和靈敏度
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HDD® 檢測器可進行快速而高靈敏的檢測，動態(tài)范圍達到10個量級
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寬大的樣品室方便各類樣品的加載
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功能強大的QUANTUMT XP軟件可以多種格式靈活方便的輸出檢測
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激光指點器(CenterLite laser pointer，申請中)可用于加載樣品
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JY獨有的單色儀(選配件)可極大的提高儀器的靈活性，可同時測定N+1個元素
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GD-Profiler HR 1米焦距，分辨率高達14pm，可同時分析60個元素
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GD-Profiler HR 可以附加選配1米焦距單色儀，分辨率達9pm

Denotes HR Model

主要特點

同類輝光光譜儀中的性能

J Y生產(chǎn)的ProfilerHR型輝光光譜儀有著的光譜分辨率，可同時檢測60余種元素(包括氣體元素)，尤其適合于復雜基體的分析。

儀器介紹

J Y 所生產(chǎn)的輝光放電發(fā)射光譜儀(RF-GD-OES)采用射頻(RF)光源，可以進行導體和非導體材料的基體、表面、逐層分析，是一種快速的、操作簡單的分析手段。

GDS是一種理想的表面、逐層分析工具，分析深度高達幾百微米，深度分辨率可至原子

JY所生產(chǎn)的輝光放電光譜儀(GD)全部采用技術(shù)的HDD(High Dynamic range Detection)檢測器，可以實時、自動優(yōu)化工作參數(shù)，在靈敏度和動態(tài)范圍不受任何損失的情況下，一個分析通道就能完全滿足同一元素在不同層面內(nèi)微量和主量的測定。