儀器簡介：
工作模式
• 反射式NSOM，通過樣品反射光強(qiáng)度進(jìn)行成像，掃描過程，樣品經(jīng)由探針孔徑光照明，反射光耦合到顯微鏡物鏡，并經(jīng)過PMT探測；
• 熒光NSOM允許局域熒光成像，樣品經(jīng)由探針孔徑光照明，透射光經(jīng)顯微鏡物鏡及濾光片，由PMT探測；
• 透射NSOM可以進(jìn)行透明樣品的成像，透射光同樣被倒置光學(xué)顯微鏡收集并由PMT探測。
激光波長選項(xiàng)
Trestles 20/50/100 700-950nm
Mavericks65 1240-1270nm
Tamarak-Er 1540-1560nm
技術(shù)參數(shù)：
參數(shù)
掃描方式（根據(jù)樣品或探針可選）
測量頭掃描范圍 80×80×3.5um（+/-10%）
小掃描步長 0.009nm
X,Y樣品臺移動范圍 5×5mm
移動 5um
樣品尺寸 可達(dá)Φ100×10mm
X,Y閉環(huán)控制平臺
X，Y范圍 100×100um
固有非線形 優(yōu)于0.2%
2nm
重復(fù)性 30nm（典型），小于全程0.2%
承重 2Kg
照明激光器
脈沖長度 <50fs
輸出功率 >100mW
重復(fù)頻率 >80MHz
波長范圍 740-950nm
主要特點(diǎn)：
特 點(diǎn)
切向力反饋
納米光學(xué)成像
反射和透過工作模式
飛秒脈沖或波長可調(diào)連續(xù)激光照明
光譜測量（可選）
工作模式
• 反射式NSOM，通過樣品反射光強(qiáng)度進(jìn)行成像，掃描過程，樣品經(jīng)由探針孔徑光照明，反射光耦合到顯微鏡物鏡，并經(jīng)過PMT探測；
• 熒光NSOM允許局域熒光成像，樣品經(jīng)由探針孔徑光照明，透射光經(jīng)顯微鏡物鏡及濾光片，由PMT探測；
• 透射NSOM可以進(jìn)行透明樣品的成像，透射光同樣被倒置光學(xué)顯微鏡收集并由PMT探測。
激光波長選項(xiàng)
Trestles 20/50/100 700-950nm
Mavericks65 1240-1270nm
Tamarak-Er 1540-1560nm
技術(shù)參數(shù)：
參數(shù)
掃描方式（根據(jù)樣品或探針可選）
測量頭掃描范圍 80×80×3.5um（+/-10%）
小掃描步長 0.009nm
X,Y樣品臺移動范圍 5×5mm
移動 5um
樣品尺寸 可達(dá)Φ100×10mm
X,Y閉環(huán)控制平臺
X，Y范圍 100×100um
固有非線形 優(yōu)于0.2%
2nm
重復(fù)性 30nm（典型），小于全程0.2%
承重 2Kg
照明激光器
脈沖長度 <50fs
輸出功率 >100mW
重復(fù)頻率 >80MHz
波長范圍 740-950nm
主要特點(diǎn)：
特 點(diǎn)
切向力反饋
納米光學(xué)成像
反射和透過工作模式
飛秒脈沖或波長可調(diào)連續(xù)激光照明
光譜測量（可選）
