版DDR3臺(tái)灣
能測(cè)試DDR3的256*8/64*8/32*16/128*8/64*16顆粒IC。支持雙Die封裝的IC顆粒！
能測(cè)試和維修D(zhuǎn)DR3不開(kāi)機(jī)黑屏錯(cuò)位點(diǎn)不亮的內(nèi)存條module記憶體模組。
延續(xù)SD/DDR/DDR2的強(qiáng)功能，
整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)都是建立在PC電腦主機(jī)板上，測(cè)試出來(lái)的OK內(nèi)存條兼容性好。各位朋友知道，我們費(fèi)盡幾道工序做出來(lái)的產(chǎn)品內(nèi)存條，終要插在主機(jī)板上，搭配顯卡CPU硬盤等硬件，組裝電腦的。若是兼容性不好，品質(zhì)不，不光客戶抱怨，而且返修費(fèi)時(shí)費(fèi)事。
大家看到的聽(tīng)說(shuō)的其它家測(cè)試儀，是單片機(jī)平臺(tái)，所測(cè)試出來(lái)的內(nèi)存條的兼容性自己想想看？
同樣，測(cè)試IC芯片顆粒，也是如此。測(cè)出來(lái)的IC芯片顆粒不但準(zhǔn)確，而且兼容性好！對(duì)IC芯片顆粒能分區(qū)、降級(jí)、挑揀利用。用測(cè)試OK的IC芯片顆粒做出來(lái)的內(nèi)存條，品質(zhì)同樣！
可以測(cè)試市場(chǎng)上比較的規(guī)格型號(hào)。Data數(shù)據(jù)線是4 bit的IC芯片顆粒。例如：
SDRAM 16x4; SD 32x4;
DDR 16x4; DDR 32x4: DDR 64x4;
DDRII 64x4; DDR2 128x4。
也可以測(cè)試、維修以上4bit的內(nèi)存條。
5、新增支援高容量的IC規(guī)格，例如256*8；128*8；64*16；
功能介紹說(shuō)明(SD/DDR/DDR2)
測(cè)試的輔助幫手,方便實(shí)用的維修利器。
dram memory業(yè)界十三年資深經(jīng)驗(yàn)的工程師編程撰寫(xiě)。
能測(cè)試DDR和DDR2的16M*16, 32M*8 , 32M*16, 64M*16，64M*8, 128M*8 IC顆粒;能測(cè)出具體的單個(gè)降級(jí)bit位數(shù),能測(cè)出具體降級(jí)的切割A(yù)ddress區(qū)塊。能批量測(cè)試SD1M*16, SD 4M*16, SD 8M*16, SD 16M*16, SD 32M*8 IC, SD 32M*16 IC顆粒。
能測(cè)試SD/DDR/DDR2以上IC做成的電腦內(nèi)存條成品,有burn in烤機(jī)程序,有R.S.T烤機(jī)程序。
能維修SD/DDR/DDR2以上IC做成的電腦內(nèi)存條不良品(包含不開(kāi)機(jī)、點(diǎn)不亮不良品),對(duì)于不開(kāi)機(jī)內(nèi)存條可以很快準(zhǔn)確找出壞位，很容易維修。
能維修雙面16顆粒IC做成的不開(kāi)機(jī)內(nèi)存條,能準(zhǔn)確的抓出壞位;適用于1RANK雙面補(bǔ)位的, 2RANK雙面補(bǔ)深度的。
應(yīng)用產(chǎn)品范圍廣泛,可根據(jù)需要來(lái)自由設(shè)置Sorting挑選順序。
自由設(shè)置檢測(cè)嚴(yán)謹(jǐn)度和環(huán)境參數(shù),測(cè)試時(shí)間長(zhǎng)短可自由設(shè)置，可產(chǎn)能。
比起同類功能的儀器,價(jià)格、費(fèi)用、維護(hù)、操作使用等都占有很多優(yōu)點(diǎn),深受新老客戶的好評(píng)。
價(jià)格優(yōu)惠適中,操作簡(jiǎn)單,不易損壞;技術(shù)支持好,升級(jí)更新方便。
級(jí)應(yīng)用于內(nèi)存芯片的長(zhǎng)度,寬度檢測(cè)，深度容量分區(qū),內(nèi)存條生產(chǎn)，檢測(cè)，維修。
使用方便，準(zhǔn)確，快速，。
檢測(cè)64位數(shù)據(jù)線故障顯示，DQ0-DQ63數(shù)據(jù)位壞區(qū)檢測(cè)顯示，A0-A16地址故障顯示。
屏幕自動(dòng)顯示SPD數(shù)據(jù)內(nèi)容。內(nèi)含專門的SPD編輯燒錄程序,操作簡(jiǎn)單方便。
全自動(dòng)適用各種頻率的DDR2內(nèi)存芯片、內(nèi)存條。
的內(nèi)存分區(qū)技術(shù)，使廢品下線;內(nèi)存芯片經(jīng)分區(qū)之后成為缺位降級(jí)down grade內(nèi)存芯片,增加其利用價(jià)值。
新增檢測(cè)開(kāi)短路的功能，對(duì)數(shù)據(jù)線，地址線，很準(zhǔn)確的檢測(cè)出來(lái)，到具體哪一根線。光這一項(xiàng)功能可過(guò)市場(chǎng)上一整臺(tái)內(nèi)存檢測(cè)儀器。
能測(cè)試市面常見(jiàn)的各種規(guī)格型號(hào)的IC顆粒和模組;能測(cè)出具體的單個(gè)降級(jí)bit位數(shù),例如：64*8測(cè)到64*4（12#，13#，14#，23#，24#，34#）能測(cè)出具體的切割A(yù)ddress區(qū)塊。（例如：64*8測(cè)到32*8A，32*8B，32*8C，32*8D，，
