該型號單道掃描等離子發(fā)射光譜儀的部分是高分辯率Czerny Turner單色儀光學(xué)系統(tǒng)。它配有3600刻線/mm或者4320刻線/mm的全息光柵，窄的入射狹縫及出射狹縫, 具有很高的分辯率和極低的雜散光，保證了系統(tǒng)在分析復(fù)雜基體樣品時，受光譜疊加的影響減到小。采用直接驅(qū)動裝置傳動光柵，保證了極快的分析速度和好的重現(xiàn)性。采用40.68MHZ RF發(fā)生器以保證高的信號背景比（S/B）和很低的檢出限。采用新技術(shù)設(shè)計了優(yōu)良的檢測系統(tǒng)，保證了分析質(zhì)量的可靠。以上這些特點使DGS-Ⅲ 在等離子體發(fā)射光譜分析中具有非常好的檢出限和任意選擇分析元素的靈活性。從而可分析各種物資材料的樣品成分, 特別在各種高純材料及高純稀土的雜質(zhì)成分分析方面更具有優(yōu)勢。該儀器在分析指標(biāo)、穩(wěn)定性、分析速度、軟件等各方面的技術(shù)指標(biāo)均達(dá)到國際先進(jìn)水平。

ICP電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀作為一種大型精密無機分析儀器，可測定各種物質(zhì)中從微量到常量的七十多種元素(如Mn、P、Si、Cr、Ni、Cu、Mo、Ti、Zn、Al、Au、Ag、Fe、Co)等的定量分析.廣泛應(yīng)用于稀土分析、貴金屬分析、合金材料、電子產(chǎn)品、醫(yī)藥衛(wèi)生、冶金、地質(zhì)、石油、化工、商檢、環(huán)保等部門和釹鐵硼、硅、硅鐵、鎢、鉬等領(lǐng)域需要檢測元素的定量分析及各種高純材料的雜質(zhì)成份分析.儀器性能達(dá)到JJG768-2005A類標(biāo)準(zhǔn)(中華人民共和國國家發(fā)射光譜儀計量檢定規(guī)程),綜合性能達(dá)到國際同類儀器的先進(jìn)水平.

1. DGS-Ⅲ單道掃描等離子光譜儀技術(shù)指標(biāo)
1) 波長檢測范圍 190-520nm
2) 波長示值誤差（理論與實際誤差） <±0.03nm
3) 波長掃描重復(fù)性極差 <±0.003nm
4) 儀器分辨率
 Mn 257.610nm <0.008nm
 Fe 310.030nm <0.007nm
四鐵光譜線( 309.990nm 309.997nm 310.030nm 310.067nm)
可分辨。
2. 儀器穩(wěn)定指標(biāo)
1) 儀器重復(fù)性（10次測量短期穩(wěn)定性） <1.5%
2) 儀器穩(wěn)定性（2小時長期穩(wěn)定性） <2.0%
儀器所有技術(shù)指標(biāo)全部優(yōu)于JJG768-2005發(fā)射光譜儀國家計量檢定規(guī)程對A類儀器的檢定要求。

DGS-III型單道掃描光譜儀特點:
 單道順序掃描單色儀:設(shè)計為C-T型單色儀,焦距為1000mm.由于采用大面積光柵,光學(xué)系統(tǒng)具有極高的光通量,這種系統(tǒng)具有極高的信背比(SBR)和光譜分辨率.使儀器的光路譜線清晰,雜散光低,檢出限大為改善.保證了該系統(tǒng)在分析復(fù)雜樣品時獲得可靠數(shù)據(jù).
 色散元件;采用3600gr/mm的大面積(110mmX80mm)離子刻蝕閃耀全息光柵.
 波長范圍:190-520nm;
 優(yōu)良的分辨率: ≤0.008mm
 采用40.68MH的RF發(fā)生器;輸出功率:600W----1200W連續(xù)可調(diào).
 輸出功率穩(wěn)定度: ≤0.1%.
 有安全保護(hù)系統(tǒng)監(jiān)控水路,氣路及抽風(fēng)的工作狀態(tài),保證儀器的安全運行.
 可測定譜線與背景強度,提高痕量元素的測定精密度和準(zhǔn)確度;
 測定每一個元素可同時選用多條譜線;
 全中文軟件,方便用戶使用儀器;
 容易操作,分析快速,結(jié)果準(zhǔn)確;