Nano Indenter G200 是一套完整的納米力學(xué)顯微探針系統(tǒng)，其功能包括了納米壓痕、納米劃痕以及納米力學(xué)顯微鏡等。整個(gè)測(cè)試流程都是全自動(dòng)的，這樣就提高了測(cè)試數(shù)據(jù)的可靠性和可重復(fù)性。
創(chuàng)新技術(shù)和優(yōu)勢(shì)
• 傳感器的高，穩(wěn)定性和重復(fù)性好，人性化的界面設(shè)計(jì)，使用方便。
• 多種加載模式：恒載荷速率、恒位移速率、恒應(yīng)變速率以及階梯加載。
• Agilent技術(shù)--連續(xù)剛度測(cè)量，基底效應(yīng)難題迎刃而解。
• 機(jī)械部分全新的設(shè)計(jì)，Ｘ-Ｙ方向的運(yùn)動(dòng)范圍：２００Ｘ２００mm。
• 電控部分采用了全新的第三代技術(shù)，儀器的穩(wěn)定性更高，實(shí)現(xiàn)了更高速的數(shù)據(jù)采集和傳遞，并且做到數(shù)據(jù)的實(shí)時(shí)
處理和顯示，包括硬度和彈性模量在壓入過程中的實(shí)時(shí)顯示。
• Ｘ-Ｙ運(yùn)動(dòng)系統(tǒng)，采用了納米運(yùn)動(dòng)馬達(dá)和 linear encoders等, 樣品臺(tái)移動(dòng)快，并且定位更準(zhǔn)確，試樣高度實(shí)現(xiàn)了原位調(diào)節(jié)。
• 內(nèi)置LED光源，并且實(shí)現(xiàn)了軟件對(duì)顯微鏡光源的控制，使得試樣表面的圖像觀察更加方便，圖像質(zhì)量更加清晰。
• 超高的金剛石壓頭，新的Berkovich壓頭頂端曲率半徑20nm。
• 壓入過程中的熱漂移效應(yīng)全自動(dòng)扣除，測(cè)量結(jié)果更加真實(shí)、可靠。
• 內(nèi)置溫度測(cè)量。
• 載荷范圍自動(dòng)識(shí)別。
• 完全符合ISO-14577（國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)），GB/T22458—2008 （中國(guó)國(guó)標(biāo)）。
• Agilent是的測(cè)量領(lǐng)域的公司，在國(guó)內(nèi)有8家分公司,28個(gè)維修站，2個(gè)工廠。
• 國(guó)內(nèi)高水平的人員和國(guó)際科學(xué)家的技術(shù)支持。
Nano Indenter 的主要指標(biāo)
G200
位移能力
位移測(cè)量方式 電容位移傳感器
壓頭總的位移范圍 ≥1.5mm
壓痕深度 >500um
位移分辨率 <0.01nm
載荷能力
加載模式 電磁力
載荷（標(biāo)配） >500mN
載荷分辨率 50nN
高載荷選件 10N /50nN
DCM壓痕選件 10mN/1nN
框架剛度 ≥5x106N/m
樣品臺(tái)
有效使用面積 100mmX100mm
定位 1um
定位控制模式 全自動(dòng)遙控
光學(xué)顯微鏡
總的放大倍率 250倍和1000倍
物鏡鏡頭 10X 和40X
