HYA2010-C1全自動靜態(tài)容量法比表面及孔徑分析測試儀
儀器外觀圖如下:
儀器型號:HYA2010-C1
產(chǎn)品名稱:全自動靜態(tài)容量法比表面及孔徑分析測試儀
產(chǎn)品型號;HYA2010-C1
產(chǎn)品類別:物理分析儀
性能參數(shù):
測試方法:借助于氣體吸附原理,靜態(tài)真空容量法。
2.比表面積分析范圍為0.0005 m2/g至無上限。
3.孔徑的測量范圍為3.5埃至5000埃。
4.微孔區(qū)段的分辨率為0.2埃。
5.孔體積小檢測: 0.0001 cc/g。
6.主機功能:借助于氣體吸附原理(典型為氮氣),吸附、脫附等溫線測定。單點和多點BET比表面積。Langmuir比表面積測定。BJH介孔、大孔分析。BET比表面積測定。t-plots圖法微孔分析,以及外表面積測定。as-plots微孔總面積。MP法微孔分析。可以升級可進行DFT密度函數(shù)理論;包括NLDFT理論等。
產(chǎn)品介紹
HYA2010-C1裝有2路共4個傳感器(國產(chǎn)),一路對P0適時測試,確保P0的準確性,另1路對1個樣品同時進行分析,可以測試1個樣品的比表面積和孔徑分布(包括超微孔)。 (注:加裝有分子泵)。