Itrax Multiscanner多用途X光掃描分析系統(tǒng)是利用XRF（X光熒光特性）和X光照相技術(shù)獲得高數(shù)碼圖像的掃描分析設(shè)備。該系統(tǒng)利用X光透射成像能夠獲得檢測(cè)樣品的密度圖像，進(jìn)行年輪分析；利用XRF掃描檢測(cè)多種元素含量，其中鉀、鈣等元素含量圖像還可輔助識(shí)別不清晰的年輪。
組成：
1. X光發(fā)生系統(tǒng)
2. 標(biāo)準(zhǔn)LEF型X光顯像管
3. PolyflatTM扁平X光束光學(xué)系統(tǒng)。
4. 可調(diào)X光束準(zhǔn)直儀
5. 300×200 mm X/Y可移動(dòng)電腦控制臺(tái)
6. 線性排列的感應(yīng)原件
7. 密度校準(zhǔn)塑料楔
8. 操作臺(tái)
9. 樣品固定盤(pán)
10. 計(jì)算機(jī)
11. 平板掃描儀
12. 系統(tǒng)專(zhuān)用用戶軟件
13. 紙版用戶手冊(cè)
技術(shù)參數(shù)：
1. 分辨率：X光照相：20~200μm可選
XRF：50~200μm可選
2. 掃描寬度：X光照相：20mm
XRF：2mm
3. 掃描速度：X光照相：為20μm時(shí)每10cm需8分鐘
XRF：為100μm時(shí)每10cm需3小時(shí)
4. 樣品規(guī)格：直徑小于280mm，厚度1~15mm（可選更厚）
樣品固定盤(pán)可固定9條長(zhǎng)不大于280mm，寬7-15mm
的條狀樣品
5. 操作臺(tái)：780×800×1600 mm（長(zhǎng)×寬×高），防塵、放輻射
主要特點(diǎn)：
1. 密度分析
2. 顯微照相
3. 多種痕量元素分析，Mg、Al、Si、S、Cl、K、Ca、Ti、Ba、V、Cr、Mn、Fe、Ni、Cu、Zn、Br、Rb、Sr、Pb等
4. 可用于不同材料分析，如木材、洞穴堆積物（如鐘乳石），泥炭塊、巖心、沉積物等
5. 數(shù)據(jù)質(zhì)量高
6. X光照相速度快
7. 可分析元素種類(lèi)多
8. 集光學(xué)成像、數(shù)碼X射線顯微照相和XRF分析于一體
9. 儀器使用方便，能夠在無(wú)人值守的情況下實(shí)現(xiàn)復(fù)雜的取樣工作
10. 可用于多種形式的樣品，包括木條、樹(shù)木圓盤(pán)、木制板材
