Rise-3002型顆粒圖像分析儀將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合,是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和粒度測(cè)量的顆粒分析系統(tǒng),由光學(xué)顯微鏡、數(shù)字CCD攝像機(jī)和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過(guò)專(zhuān)用的數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將顯微鏡的顆粒圖像拍攝下來(lái)傳輸給電腦,通過(guò)專(zhuān)用的顆粒圖像處理分析軟件對(duì)圖像進(jìn)行處理分析,具有直觀、形象、準(zhǔn)確和測(cè)試范圍寬等特點(diǎn)。
技術(shù)參數(shù):
1、測(cè)量范圍:1~3000微米
2、光學(xué)放大倍數(shù):1600倍
3、分辨率:0.1微米/像素
4、準(zhǔn)確性誤差:< ±3%(國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì))
5、重復(fù)性偏差:< ±3%(國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì))
6、數(shù)據(jù)輸出:周長(zhǎng)分布、面積分布、長(zhǎng)徑分布、短徑分布、周長(zhǎng)相當(dāng)徑分布、面積相當(dāng)徑分布、Feret徑分布、長(zhǎng)短徑比、中間徑(D50)、有效粒徑(D10)、限定粒徑(D60)、D30、D97、個(gè)數(shù)長(zhǎng)度平均徑、個(gè)數(shù)面積平均徑、個(gè)數(shù)體積平均徑、長(zhǎng)度面積平均徑、長(zhǎng)度體積平均徑、面積體積平均徑、不均勻系數(shù)、曲率系數(shù)。
主要特點(diǎn):
Rise-3002型顆粒圖像分析儀可以觀察顆粒形貌,也可得到粒度分布等分析結(jié)果。