X射線膜厚儀的詳細(xì)信息
X射線膜厚儀是針對(duì)高要求用戶設(shè)計(jì)的，能夠測(cè)量精密的樣品，如：微形部件或線路板上微細(xì)的表面結(jié)構(gòu)，它的新穎X－射線光學(xué)鏡片，的X-射線光學(xué)原理，使這部?jī)x器能產(chǎn)生小，但高輻射強(qiáng)度的測(cè)量點(diǎn)，所以，測(cè)量數(shù)十微米的面積的結(jié)構(gòu)也變成可能。X射線膜厚儀配備了半導(dǎo)體接收器適合測(cè)量薄到數(shù)NM的鍍層，還能測(cè)量出范圍從元素氯（Z＝13）至鈾（Z ＝92）。X射線膜厚儀主要應(yīng)用于線路板測(cè)試、細(xì)的鉛框一片片的掃描（指定面積），如：硬盤鍍層、細(xì)微的線。有高，可編程的XYZ測(cè)量臺(tái)及大移動(dòng)范圍，測(cè)量室為長(zhǎng)方形內(nèi)槽設(shè)計(jì)，容許放入大面積的物件進(jìn)行測(cè)量。
