二手A電橋的詳細(xì)信息
★測(cè)量速度:6.5ms/10ms/21ms
★測(cè)量參數(shù):C-D,Q,ESR,G
★C-D測(cè)量:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)
★0.05%,0.0002(1MHz,21ms)
Agilent 4278A 1kHz/1MHz電容測(cè)試儀是一臺(tái)高速高可靠的精密測(cè)試儀器，用于生產(chǎn)線和質(zhì)量控制中作電容器的進(jìn)出廠檢。Agilent 4278A 能改善小電容量和中等電容器的測(cè)試效率（可測(cè)量以200μF，這個(gè)電容量能容納多數(shù)陶瓷和薄膜電容器的數(shù)據(jù)值）。
技術(shù)指標(biāo)：
•4278A 1kHz/1MHz電容測(cè)試儀
Opt W30 擴(kuò)大的維修服務(wù)
Opt 001 只1kHz測(cè)試頻率
Opt 002 只1MHz測(cè)試頻率
Opt 003 1%的頻率漂移；
詳細(xì)說明:
·20Hz-1MHz具有8600個(gè)以上的測(cè)試頻率
·0.05%的基本，6位數(shù)字分辨率
·恒定的V或I測(cè)試信號(hào)電平
·20Vrms電平選件（選件001）
·用Alilent 42841A進(jìn)給出40Adc
·具有列表掃描測(cè)量功能
Agilent 4284A精密LCR測(cè)試儀是用于元件和材料測(cè)量的價(jià)廉物美的儀器。它通過提供、高吞吐量的測(cè)試方法來改善元件的質(zhì)量。20Hz到1MHz寬的測(cè)頻范圍和優(yōu)良的測(cè)試信號(hào)，使4284A在測(cè)試元件時(shí)符合通行的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如IEC/MIL標(biāo)準(zhǔn)（國(guó)際電工委員會(huì)或美國(guó)軍用標(biāo)準(zhǔn)），且工作在模擬所使用的工作條件下。無論在研究開發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量保證中還是進(jìn)貨檢驗(yàn)，4284A都能滿足全部LCR測(cè)量要求。技術(shù)指標(biāo)被測(cè)參數(shù) |Z|-θ,|Y|-θ,R-X,G-B,C-D,Q,ESR,G,Rp,L-D,Q,ESR,G,Rp;偏差和%偏差
測(cè)量電路模式 串聯(lián)和并聯(lián)
量程轉(zhuǎn)換 自動(dòng)和手動(dòng)
觸發(fā) 內(nèi)部、外部和總線（HP-IB）
延遲時(shí)間 0-60.00s以1ms步進(jìn)
測(cè)量終端 四端對(duì)
測(cè)試電纜長(zhǎng)度 標(biāo)準(zhǔn)：0和1m；帶選件006時(shí)：0、1、2和4m
積分時(shí)間： 短、中等和長(zhǎng)
取平均： 1-256可程控
測(cè)試信號(hào)： 20Hz-1MHz±0.01%8610個(gè)可選擇頻率
測(cè)試信號(hào)方式：
標(biāo)準(zhǔn)： 分別在開路或短路的測(cè)量端，而不是在被測(cè)件上對(duì)選一的電壓或電流編程
恒定： 維持被測(cè)件上選定的電壓或電流，而與器件阻抗和變化無關(guān)
測(cè)試信號(hào)： 電平 標(biāo)準(zhǔn) 恒定
4284A 5mV~2V,50μA-20mA 10mV-1V,100μA-10mA
選件001 5mV~2V,50μA-200mA 10mV-10V,100μA-100mA
直流偏置： 標(biāo)準(zhǔn)：0V，1.5V和2V
選件：0V-±40V
測(cè)量顯示范圍 參數(shù) 范圍
|Z|,R,X 0.01mΩ-99.9999MΩ
|Y|,G,B 0.01nS-99.9999S
C HP
4284A:0.01fF-9.9999F
L HP 4284A:0.01nH-99.9999kH
D 0.000001-9.99999
Q 0.01-99999.9
θ -180.000°~180.000°
Δ% -999.999%~999.999%
基本測(cè)量 |Z|,C,L D
0.05% 0.0005
補(bǔ)充特性：
測(cè)量時(shí)間： 從觸發(fā)命令到處理器界面連接器上的結(jié)束測(cè)量（EOM）輸出的典型測(cè)量時(shí)間
短 40ms
中等 190ms
長(zhǎng) 830ms
★測(cè)量速度:6.5ms/10ms/21ms
★測(cè)量參數(shù):C-D,Q,ESR,G
★C-D測(cè)量:0.07%,0.0005(1kHz,21ms)
★0.05%,0.0002(1MHz,21ms)
Agilent 4278A 1kHz/1MHz電容測(cè)試儀是一臺(tái)高速高可靠的精密測(cè)試儀器，用于生產(chǎn)線和質(zhì)量控制中作電容器的進(jìn)出廠檢。Agilent 4278A 能改善小電容量和中等電容器的測(cè)試效率（可測(cè)量以200μF，這個(gè)電容量能容納多數(shù)陶瓷和薄膜電容器的數(shù)據(jù)值）。
技術(shù)指標(biāo)：
•4278A 1kHz/1MHz電容測(cè)試儀
Opt W30 擴(kuò)大的維修服務(wù)
Opt 001 只1kHz測(cè)試頻率
Opt 002 只1MHz測(cè)試頻率
Opt 003 1%的頻率漂移；
詳細(xì)說明:
·20Hz-1MHz具有8600個(gè)以上的測(cè)試頻率
·0.05%的基本，6位數(shù)字分辨率
·恒定的V或I測(cè)試信號(hào)電平
·20Vrms電平選件（選件001）
·用Alilent 42841A進(jìn)給出40Adc
·具有列表掃描測(cè)量功能
Agilent 4284A精密LCR測(cè)試儀是用于元件和材料測(cè)量的價(jià)廉物美的儀器。它通過提供、高吞吐量的測(cè)試方法來改善元件的質(zhì)量。20Hz到1MHz寬的測(cè)頻范圍和優(yōu)良的測(cè)試信號(hào)，使4284A在測(cè)試元件時(shí)符合通行的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)如IEC/MIL標(biāo)準(zhǔn)（國(guó)際電工委員會(huì)或美國(guó)軍用標(biāo)準(zhǔn)），且工作在模擬所使用的工作條件下。無論在研究開發(fā)、生產(chǎn)、質(zhì)量保證中還是進(jìn)貨檢驗(yàn)，4284A都能滿足全部LCR測(cè)量要求。技術(shù)指標(biāo)被測(cè)參數(shù) |Z|-θ,|Y|-θ,R-X,G-B,C-D,Q,ESR,G,Rp,L-D,Q,ESR,G,Rp;偏差和%偏差
測(cè)量電路模式 串聯(lián)和并聯(lián)
量程轉(zhuǎn)換 自動(dòng)和手動(dòng)
觸發(fā) 內(nèi)部、外部和總線（HP-IB）
延遲時(shí)間 0-60.00s以1ms步進(jìn)
測(cè)量終端 四端對(duì)
測(cè)試電纜長(zhǎng)度 標(biāo)準(zhǔn)：0和1m；帶選件006時(shí)：0、1、2和4m
積分時(shí)間： 短、中等和長(zhǎng)
取平均： 1-256可程控
測(cè)試信號(hào)： 20Hz-1MHz±0.01%8610個(gè)可選擇頻率
測(cè)試信號(hào)方式：
標(biāo)準(zhǔn)： 分別在開路或短路的測(cè)量端，而不是在被測(cè)件上對(duì)選一的電壓或電流編程
恒定： 維持被測(cè)件上選定的電壓或電流，而與器件阻抗和變化無關(guān)
測(cè)試信號(hào)： 電平 標(biāo)準(zhǔn) 恒定
4284A 5mV~2V,50μA-20mA 10mV-1V,100μA-10mA
選件001 5mV~2V,50μA-200mA 10mV-10V,100μA-100mA
直流偏置： 標(biāo)準(zhǔn)：0V，1.5V和2V
選件：0V-±40V
測(cè)量顯示范圍 參數(shù) 范圍
|Z|,R,X 0.01mΩ-99.9999MΩ
|Y|,G,B 0.01nS-99.9999S
C HP
4284A:0.01fF-9.9999F
L HP 4284A:0.01nH-99.9999kH
D 0.000001-9.99999
Q 0.01-99999.9
θ -180.000°~180.000°
Δ% -999.999%~999.999%
基本測(cè)量 |Z|,C,L D
0.05% 0.0005
補(bǔ)充特性：
測(cè)量時(shí)間： 從觸發(fā)命令到處理器界面連接器上的結(jié)束測(cè)量（EOM）輸出的典型測(cè)量時(shí)間
短 40ms
中等 190ms
長(zhǎng) 830ms
