晶振測量儀器 XT-150D的詳細信息

XT-150D克服了模擬晶體阻抗計功能單一、可靠性差，讀數(shù)不直觀的缺點，采用新技術(shù)，自帶頻率和頻差（ppm）測量功能，等效電阻，負載電容和靜電容數(shù)字化顯示。可以設(shè)定頻差上下限，對合格品，儀器會語音告知測試者，減輕了勞動強度，提高了工作效率，是一項高品質(zhì)的智能化產(chǎn)品。

主要測試項目：
1． 晶體的串聯(lián)諧振頻率FS。
2． 晶體的負載諧振頻率FL。
3． 晶體的串聯(lián)諧振電阻RR。
4． 晶體的負載諧振電阻RL。
5． 晶體的靜電容C0。
6． 晶體的負載電容CL。
7． 晶體的頻差ppm或KHz。
技術(shù)指標：
1． 晶體頻率測量范圍：3―――６０ＭＨｚ。
2． 等效電阻測量范圍：０―――２００Ω。
3． 靜電容測量范圍：　０―――２０ＰＦ。
4． 負載電容的調(diào)整范圍：１０―――４０ＰＦ。
5． 激勵電平的調(diào)整范圍：１０―――５００ｕＷ。
6． 晶體等效電阻的測量誤差：≤５％。
7． 激勵電平誤差：　　　　　≤５０％。
8． 工作溫度范圍：　　＋１５―――＋３５℃。
9． 時基穩(wěn)定度（10MHz）： 5×10-7
10． 電源電壓：　　?。玻玻埃謅c　＋／－１０％。
11． 功耗：           ≤１５W。