TOUCH PANEL ITO RAW MATERIALS TESTERKD-CPITO測(cè)試功能說明Description of Test Function:
KD-CTPITO測(cè)試原理是利用同等電位原理,來測(cè)試ITO膜厚均勻與否,其功能如下:測(cè)試速度快: 利用探針作為導(dǎo)通測(cè)試接觸點(diǎn)方式,比傳統(tǒng)手動(dòng)四線式測(cè)試速度快。測(cè)試方式選擇: 可採利用對(duì)角斜率方式或直線同等電位方式來測(cè)試。下壓點(diǎn)力量控制:採用五口三位汽動(dòng)下壓控制汽路,不致壓傷Glass/Film材料。測(cè)試點(diǎn)控制:採Lab-View軟體視窗操作模式,可設(shè)定X/Y軸之測(cè)試點(diǎn)數(shù),一組治具即可大小共用,節(jié)省治具成本。強(qiáng)大Lab-iew功能: 強(qiáng)大的NI Lab-View功能操作模式,可以excel輸出測(cè)試圖型及每點(diǎn)測(cè)試電壓值資料。操作容易,易學(xué)易懂,更是本機(jī)特色。測(cè) 試 規(guī) 格TEST SPECIFICATION測(cè)試電壓test voltage:5.0V測(cè)試電流test current:20 mA測(cè)試點(diǎn)數(shù)test points:1024 pins/max測(cè)試速度test speed:512 pins/ 6 sec測(cè)試面積test area:580x450 mm(max)配備EQUIPMENT工業(yè)電腦主機(jī)板cpu:工業(yè)電腦P31 set顯示器LCDmonitor:15”standard1 set鍵盤keyboard:101 keys standard1 set列表機(jī)printer:Epson printer(選配)1 set滑鼠mouse:Standard