ST2253數(shù)字式四端子直流電阻測(cè)試儀(帶PC軟件)的詳細(xì)信息

ST2253型數(shù)字式四探針測(cè)試儀簡(jiǎn)介一、結(jié)構(gòu)特征二、概述JG2253型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量裝置，它可以測(cè)量半導(dǎo)體材料的電阻率，測(cè)量擴(kuò)散層的薄層電阻（亦稱(chēng)方阻）。換上特制的四端子測(cè)試夾具，還可以進(jìn)行金屬導(dǎo)體的低、中值直流電阻測(cè)試。儀器由主機(jī)、測(cè)試探頭（可選配測(cè)試臺(tái)）等部分組成，測(cè)試結(jié)果由主機(jī)數(shù)碼管直接顯示。也可連接PC機(jī)由配套軟件在PC機(jī)上操作，其數(shù)據(jù)可由軟件顯示、分析、保存和打?。≈鳈C(jī)主要由精密恒流源，高分辨率 ADC、嵌入式單片機(jī)系統(tǒng)組成，自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程。測(cè)試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成，故定位準(zhǔn)確、游移率小、壽命長(zhǎng)。儀器具有測(cè)量高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測(cè)量簡(jiǎn)便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn)。儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能的測(cè)試。特別適用于要求快速測(cè)量中低電阻率的場(chǎng)合。三、基本技術(shù)參數(shù)3.1測(cè)量范圍電阻率：    10-4～105Ω-cm方塊電阻：  10-3～106Ω/□    電   阻：10-4～105Ω3.2可測(cè)半導(dǎo)體材料尺寸直  徑：  Φ15～100mm, 長(zhǎng)（或高）度：  ≤400mm2.3測(cè)量方位:軸向、徑向均可2.4.  4 1/2位數(shù)字電壓表：⑴量程： 200mV⑵誤差：±0.1%讀數(shù)±2 字2.5數(shù)控恒流源⑴電流輸出：直流電流 0～100mA 連續(xù)可調(diào)，由交流電源供電。⑵量程：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA⑶誤差：±0.5%讀數(shù)±2 字2.6四探針測(cè)試探頭  ⑴探針間距 1mm(2)探針壓力: 0～2kg 可調(diào),壓力約 2kg(3)探針：碳化鎢，Φ0.5mm2.7.電源輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<20W2.8.外形尺寸：主機(jī)  260mm（長(zhǎng)）×210 mm（寬）×125mm（高）四、詳情請(qǐng)登陸蘇州晶格電子有限公司網(wǎng)站查看《ST2253型數(shù)字式四探針測(cè)試儀技術(shù)使用說(shuō)明書(shū)》