電池測(cè)試儀的詳細(xì)信息

SMT-A / SMT-B / SMT-F：太陽(yáng)能電池組件測(cè)試儀  產(chǎn)品特點(diǎn)：l        該設(shè)備專門(mén)用于太陽(yáng)能單晶硅、多晶硅、非晶硅電池組件的電性能測(cè)試。l        通過(guò)模擬太陽(yáng)光譜光源，對(duì)電池組件的相關(guān)電參數(shù)進(jìn)行測(cè)量。l        獨(dú)有的校正裝置，輸入補(bǔ)償參數(shù)，進(jìn)行自動(dòng)/手動(dòng)溫度補(bǔ)償和光強(qiáng)度補(bǔ)償，具備非接觸式自動(dòng)測(cè)溫與溫度修正功能。l        基于Windows的操作界面，測(cè)試軟件人性化設(shè)計(jì)，記錄并顯示測(cè)試曲線（I-V曲線、P曲線）和測(cè)試參數(shù)（Voc、Isc、Pmax、Im、Vm、FF、EFF、Temp），測(cè)試結(jié)果語(yǔ)音提示，序列號(hào)自動(dòng)生成，保存到指定文件夾。 太陽(yáng)能電池組件測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：  型號(hào)規(guī)格SMT-ASMT-BSMT-F光譜范圍符合IEC60904-9要求（A級(jí)）輻照強(qiáng)度100mW/cm2(調(diào)節(jié)范圍70~120mW/cm2)輻照不均勻度≤±2%≤±3%≤±2%輻照不穩(wěn)定度≤±2%≤±3%≤±2%測(cè)試結(jié)果一致性≤±0.5%≤±1%≤±0.5%電性能測(cè)試誤差≤±1%≤±2%≤±1%單次閃光時(shí)間10ms10ms10ms有效測(cè)試面積1200mm×2000mm有效測(cè)試范圍10W~300W測(cè)量電壓1V~10V(分辨率1mV)測(cè)量電流100mA~20A(分辨率1mA)測(cè)試參數(shù)Isc 、Voc 、Pmax 、Vm 、Im 、FF、 EFF 、Temp數(shù)據(jù)采集含8000個(gè)數(shù)據(jù)采集點(diǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域：專門(mén)用于太陽(yáng)能單晶硅、多晶硅、非晶硅電池組件的電性能測(cè)試。樣品圖片：