，SiO2，MgF2，TiO2等。
　　
　　5.100％測(cè)試和檢驗(yàn)：
　　為限度地提高晶控片（晶振片）的使用壽命、穩(wěn)定而準(zhǔn)確的沉積速率控制，每個(gè)晶控片（晶振片）都經(jīng)過如下檢查：
　　1）。阻抗——阻抗的檢查有助于保證測(cè)量的穩(wěn)定性和晶控片（晶振片）的使用壽命。阻抗指標(biāo)體現(xiàn)了晶控片的電接觸性和電極粘連度。
　　2）。頻率——確保起始頻率在較小范圍內(nèi)，有助于確保您準(zhǔn)確的厚度測(cè)量。
　　3）。曲率——曲率的測(cè)試，是為了保證共振的穩(wěn)定性，差勁的曲率將降低晶控片（晶振片）測(cè)量過程的穩(wěn)定性。
　　4）。外觀檢測(cè)——每個(gè)晶體的電極均勻性、表面缺陷、以及其他的外觀缺陷都得到檢查，從而排除了較差的電極粘連性和可能的污染。