北京金德3D物位掃描儀的詳細(xì)信息

• 電源：(V)
• 度：——(cm)
• 環(huán)境溫度：——(℃)
• 重量：(kg)
• 外形尺寸：**(mm)
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JD3D 3D物位掃描儀 北京金德創(chuàng)業(yè)測(cè)控技術(shù)有限公司 以色列APM公司中國(guó)地區(qū)授權(quán)總代理。產(chǎn)品概述
北京金德APM-JD3D物位掃描儀是迄今為止可實(shí)際投入工業(yè)領(lǐng)域應(yīng)用僅有的一種可以準(zhǔn)確檢測(cè)固體物料和體積的創(chuàng)新和成熟技術(shù)，而且不受物料種類(lèi)，物化性能，貯存物料間，開(kāi)放倉(cāng)或料倉(cāng)的類(lèi)型和尺寸的影響并適用于惡劣的物料貯存環(huán)境。APM-JD3D物位掃描儀利用三個(gè)信號(hào)傳送器發(fā)射低頻脈沖，并接受來(lái)自筒倉(cāng)，開(kāi)放倉(cāng)或者其它料位倉(cāng)內(nèi)物料表面的脈沖回波。通過(guò)使用三個(gè)喇叭狀天線，設(shè)備不僅能夠監(jiān)測(cè)到每個(gè)回波的時(shí)間/距離，還能監(jiān)測(cè)到回波的方向。該設(shè)備的數(shù)字信號(hào)處理器對(duì)接收到的信號(hào)進(jìn)行取樣和分析，非常準(zhǔn)確的監(jiān)測(cè)出物料的物位、體積和質(zhì)量，生成料倉(cāng)內(nèi)物料的實(shí)際分布狀況的三維立體圖像，并在遠(yuǎn)程電腦上顯示出來(lái)。APM-JD3D物位掃描儀實(shí)際上可以監(jiān)測(cè)儲(chǔ)存在各種料倉(cāng)包括筒倉(cāng)，大型開(kāi)放倉(cāng)，固體物料儲(chǔ)存室，堆場(chǎng)和倉(cāng)庫(kù)中的各種散狀固體物料，標(biāo)出料倉(cāng)內(nèi)的物料物位以及繪制出物料隨時(shí)變化而隨機(jī)形成的不規(guī)則表面形狀，計(jì)算出物料的實(shí)際體積，使物位監(jiān)測(cè)水平達(dá)到了新的高度，從而可以提供方案解決目前技術(shù)無(wú)法解決的問(wèn)題。APM-JD3D物位掃描儀儀所發(fā)出的低頻聲波可穿透懸浮的粉塵，而不像其他技術(shù)非常惡劣環(huán)境下測(cè)量時(shí)會(huì)存在“疑惑”的信號(hào)。聲波信號(hào)含有的自潔功能可防止材料黏附在料位計(jì)設(shè)備的內(nèi)表面，從而保證在任何惡劣的環(huán)境下以非常低的維護(hù)量進(jìn)行長(zhǎng)期可靠的工作。工作原理
APM-JD3D物位掃描儀基于二維數(shù)組波束形成器傳送低頻脈沖，接收來(lái)自筒倉(cāng)、倉(cāng)室或其他容室內(nèi)物料的回波。設(shè)備的數(shù)字信號(hào)處理器對(duì)接收到的信號(hào)進(jìn)行取樣和分析，通過(guò)估算回波到達(dá)的時(shí)間和方向，處理器形成一個(gè)物料表面的三維圖，這個(gè)圖像通過(guò)一種專有的計(jì)算方法對(duì)信息進(jìn)行處理并生成3D圖象，可以在遠(yuǎn)端屏幕上顯示出來(lái). 設(shè)備可以據(jù)此準(zhǔn)確得出物料的體積和質(zhì)量，夠使工藝物位監(jiān)測(cè)和庫(kù)存控制達(dá)到一個(gè)新的高度。的物料檢測(cè)能夠提高操作效率和管理能力，高成本突發(fā)狀況減少，加快收益回饋。

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產(chǎn)品系列
APM-JD3D體積物位掃描儀現(xiàn)有五個(gè)型號(hào)供用戶選擇
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3DLevelScanner S1檢測(cè)儲(chǔ)存物料的平均體積。基于15度波束角，穿透一般濃度粉塵，適用于狹窄料倉(cāng)，高度（至70m）的小型倉(cāng)的理想選擇。

3DLevelScanner S2檢測(cè)儲(chǔ)存物料的平均體積。基于30度波束角，S型是檢測(cè)直徑為4m以下，高度（至70m）的小型倉(cāng)的理想選擇。

APM-JD3DLevelScanner M 提供非常準(zhǔn)確的物位和體積值，適用于大型（高度和直徑達(dá)70m）的筒倉(cāng)，開(kāi)放倉(cāng)等。
APM-JD3DLevelScanner MV 與M型相同，但增加了特殊的軟件工具，可以在遠(yuǎn)程電腦上顯示出倉(cāng)內(nèi)物料的3D圖像，這項(xiàng)特點(diǎn)用于標(biāo)出及繪制物料隨時(shí)間變化的隨機(jī)形狀和不規(guī)則體積。
APM-JD3DLevelScanner MVL2系統(tǒng)由2個(gè)或4個(gè)體積物位掃描儀組成，他們能以測(cè)量區(qū)域?yàn)樵瓌t進(jìn)行安裝，并能增強(qiáng)單個(gè)體積物位掃描儀的體積測(cè)量。APM-JD3D物位掃描儀的優(yōu)點(diǎn)
替代并超越雷達(dá)物位計(jì)或超聲波物位計(jì)的革命性突破；
真正的立體三維成像，過(guò)程自動(dòng)化的產(chǎn)品；
物位在線檢測(cè)不再是單點(diǎn)檢測(cè)模式，而是多點(diǎn)高檢測(cè)并全面考慮物料表面的變化形態(tài)。
實(shí)現(xiàn)連續(xù)檢測(cè)筒倉(cāng)或開(kāi)放式倉(cāng)室內(nèi)物料的物位、體積以及質(zhì)量的產(chǎn)品；
APM-JD3D圖像形式顯示的創(chuàng)新型設(shè)備；
掃描粉料的表面（成百上千個(gè)網(wǎng)格點(diǎn)）無(wú)論物料表面如何不規(guī)則，測(cè)量的是多點(diǎn)的平均值；
掃描粉體表面，可以在DCS對(duì)粉體表面3維成像，從而獲得筒倉(cāng)內(nèi)盛裝的粉體體積數(shù)據(jù)；
APM-JD3D物位掃描儀的高濃度粉塵透射技術(shù)，低頻脈沖波技術(shù)非接觸式測(cè)量；
無(wú)移動(dòng)部件，無(wú)腐蝕風(fēng)險(xiǎn)，因此更適合用于水泥，鋼鐵、食品、化學(xué)品和藥品等；可檢測(cè)粉末，粒狀料，丸裝料以及其他固體物料，無(wú)需特殊校準(zhǔn)；可用于高型簡(jiǎn)倉(cāng)---檢測(cè)范圍可達(dá)70m；
成本效益高；
3個(gè)獨(dú)立發(fā)射器確保檢測(cè)準(zhǔn)確可靠；
初始安裝過(guò)程中遠(yuǎn)程連接我方客戶支持工程師，以實(shí)現(xiàn)特定現(xiàn)場(chǎng)掃描儀能夠自定義至性能配置。?各種料位測(cè)量?jī)x表的比較
超聲波物位計(jì)
優(yōu)點(diǎn)：非接觸
局限：粉塵影響/凹凸面影響非接觸式雷達(dá)料位計(jì)
優(yōu)點(diǎn)：非接觸
局限：介電常數(shù)有要求/粉塵影響/凹凸面影響導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)
優(yōu)點(diǎn)：對(duì)某個(gè)點(diǎn)的測(cè)量
局限：介電常數(shù)有要求/掛料/拉力影響激光物位計(jì)
優(yōu)點(diǎn)：非接觸
局限：粉塵影響/凹凸面影響射頻導(dǎo)納料位計(jì)
優(yōu)點(diǎn)：點(diǎn)接觸
局限：介電常數(shù)有要求/時(shí)漂/溫漂/掛料/拉力重錘式料位計(jì)
優(yōu)點(diǎn)：直接測(cè)量/手動(dòng)控制
局限：埋錘/亂繩r射線式料位計(jì)
優(yōu)點(diǎn)：非接觸、穩(wěn)定
局限：有污染稱重式料位計(jì)
優(yōu)點(diǎn)：可以測(cè)量質(zhì)量/體積
局限：抗震問(wèn)題/物料面狀況不知/價(jià)格高?APM-JD3D物位掃描儀三維影像
1、這一獨(dú)特的技術(shù)可以測(cè)量?jī)?chǔ)存在各種容器中的任何原料，包括筒倉(cāng)、大型開(kāi)放式儲(chǔ)存地、散裝物料儲(chǔ)存室、貨堆和倉(cāng)庫(kù)。它可以映射出物料隨機(jī)而產(chǎn)生的堆積形狀和不規(guī)則性，從而為目前和其他先前無(wú)法進(jìn)入的挑戰(zhàn)性應(yīng)用領(lǐng)域提供了解決方案。
2、存儲(chǔ)物的三維圖像能夠顯示在遠(yuǎn)程計(jì)算機(jī)屏幕上。
3、液晶顯示。
4、一鍵操作，輕松導(dǎo)航。?3D物位掃描儀的應(yīng)用行業(yè)
水泥及混凝料-生料、熟料倉(cāng)、煤倉(cāng)等,鋼鐵-原料倉(cāng)、煤倉(cāng)、礦石倉(cāng)等,焦化,電力-煤倉(cāng)、灰倉(cāng)或粉煤灰,紙漿和造紙,石油化工,采礦,冶金,有色冶煉,食品加工,谷物、種子和飼料,骨料工業(yè),化工加工,生物能源,塑料生產(chǎn),制藥產(chǎn)業(yè),環(huán)境與回收工業(yè),水和廢水處理工業(yè)等。