DM2500M顯微鏡是德國徠卡(Leica)公司2005年推出的新產(chǎn)品, 光學(xué)設(shè)計上采用先進(jìn)的
HC無限遠(yuǎn)軸向、徑向雙重色差校正光學(xué)技術(shù)，徹底消除雜散光等干擾因素；
在整個光學(xué)系統(tǒng)內(nèi), 對涉及成像質(zhì)量的所有組件(物鏡、鏡筒透鏡、目鏡筒、
目鏡、照相接口等) 進(jìn)行優(yōu)化組合，實(shí)現(xiàn)圖像分辨率和反差的優(yōu)化，
得到銳利圖像的同時追求分辨率。
DM2500M能對芯片制造過程中各種缺陷做出清晰的觀察.特別適合失效分析實(shí)驗(yàn)室芯片開模后的分析.
DM2500M的微分干涉附件,能非常清晰地檢查LCD行業(yè)的COG,COF工藝中導(dǎo)電粒子的情況.
DM2500M能對PCB的銅箔短路,斷路,鍍層的粗糙度,隔離油(比如綠油,黑油等)分布情況,孔的電鍍情況做細(xì)微的觀察.
DM2500M能對清晰地觀察太陽能電池片的制絨情況,配合專用軟件,能給出絨面的三維形貌,并可用于高度,寬度的測量.
DM2500M同樣勝任鋼鐵,金屬, 化工材料行業(yè)的科研, 質(zhì)檢, 質(zhì)控工
HC無限遠(yuǎn)軸向、徑向雙重色差校正光學(xué)技術(shù)，徹底消除雜散光等干擾因素；
在整個光學(xué)系統(tǒng)內(nèi), 對涉及成像質(zhì)量的所有組件(物鏡、鏡筒透鏡、目鏡筒、
目鏡、照相接口等) 進(jìn)行優(yōu)化組合，實(shí)現(xiàn)圖像分辨率和反差的優(yōu)化，
得到銳利圖像的同時追求分辨率。
DM2500M能對芯片制造過程中各種缺陷做出清晰的觀察.特別適合失效分析實(shí)驗(yàn)室芯片開模后的分析.
DM2500M的微分干涉附件,能非常清晰地檢查LCD行業(yè)的COG,COF工藝中導(dǎo)電粒子的情況.
DM2500M能對PCB的銅箔短路,斷路,鍍層的粗糙度,隔離油(比如綠油,黑油等)分布情況,孔的電鍍情況做細(xì)微的觀察.
DM2500M能對清晰地觀察太陽能電池片的制絨情況,配合專用軟件,能給出絨面的三維形貌,并可用于高度,寬度的測量.
DM2500M同樣勝任鋼鐵,金屬, 化工材料行業(yè)的科研, 質(zhì)檢, 質(zhì)控工
