深圳市托普科電子設(shè)備有限公司（深圳市托普科實(shí)業(yè)有限公司）,AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀,利用光學(xué)方法，采用權(quán)值成像數(shù)據(jù)分析原理，用來(lái)檢測(cè)SMT工藝中的錫膏缺陷、零件缺陷和焊點(diǎn)缺陷。測(cè)量時(shí)，將待測(cè)PCB置于光學(xué)鏡頭下方，逐個(gè)采集每個(gè)焊盤或零件的圖像，并對(duì)圖像進(jìn)行連續(xù)的數(shù)字化處理分析，然后與預(yù)存的“標(biāo)準(zhǔn)”進(jìn)行比較分析進(jìn)而作出缺陷結(jié)論。 AOI的實(shí)施目標(biāo): 終品質(zhì):通常置于SMT生產(chǎn)線的末端,用為檢查SMT之的的產(chǎn)品缺陷; 過(guò)程控制:分別置于印刷機(jī)、貼片機(jī)之后,用來(lái)檢查SMT工序缺陷并反饋數(shù)據(jù)。 規(guī)格參數(shù)：CCD攝像機(jī)分辨率：15微米/點(diǎn)識(shí)別速度：以上是離線式AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀的詳細(xì)信息，如果您對(duì)離線式AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀的價(jià)格、廠家、型號(hào)、圖片有什么疑問(wèn)，請(qǐng)聯(lián)系我們獲取離線式AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)儀的新信息。
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