鍍金膜厚測量儀（測金機(jī)）在技術(shù)上一直以來都于的測厚行業(yè),X-射線熒光鍍層厚度測量儀能夠測量包含原子序號17至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。

鍍金膜厚測量儀（測金機(jī)）技術(shù)參數(shù):
　1.鍍金膜厚測量儀（測金機(jī)）是采用根據(jù)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)DIN50987，ISO3497和ASTM B568的X-射線熒光測試方法；
　2.原始射線從下至上；
　3.X-射線管高壓設(shè)定可調(diào)節(jié)至的應(yīng)用：50kV，40kV或30kV；
　4.準(zhǔn)值器組：圓直徑為0.3,02；在附加費(fèi)用的基礎(chǔ)上可選擇0.05X0.3mm長方形準(zhǔn)值器與0.05X0.05方形準(zhǔn)值器
　5.測量箱外部尺寸：（高×寬×深）510 mm×455 mm×580 mm，重量大約為45kg；
　6.帶槽箱體的內(nèi)部尺寸：（高×寬×深）240 mm×360 mm×380mm）帶向上回轉(zhuǎn)箱門；
　7.鍍金膜厚測量儀（測金機(jī)）手動(dòng)X-Y工作臺（平面板：360 mm寬×240 mm深），帶50 mm的X方向和50 mm的Y方向運(yùn)行.
　8.試件查看用標(biāo)準(zhǔn)的彩色攝像機(jī)；
　9.測量開始/結(jié)束按鈕，及LED狀態(tài)指示燈與測試箱集成在一體。