U盤(pán)存儲(chǔ)，即插即用，

USB接口可插入U盤(pán)，無(wú)需驅(qū)動(dòng)，支持熱插撥，即插即用。實(shí)現(xiàn)探傷存儲(chǔ)、拷屏打印。

二維編碼B掃描 直觀顯示缺陷位置

高端探傷儀常用的二維色彩編碼B掃描功能。B掃描功能圖像式的觀察缺陷模式，能夠產(chǎn)生很好的對(duì)比效果，更便于缺陷的分析判斷。通過(guò):灰度/彩色調(diào)色板還可以自動(dòng)顯示缺陷危害程度，也可實(shí)時(shí)對(duì)比觀測(cè)A掃波形和B掃圖像

超大容量數(shù)據(jù)儲(chǔ)存：2000個(gè)數(shù)據(jù)組

探傷與高精測(cè)厚一體

5條智能DAC曲線，符合JIS和API標(biāo)準(zhǔn)

實(shí)用DGS曲線:大平底、平底孔、通孔三種參考類(lèi)型

 性能

國(guó)內(nèi)率先達(dá)到10位高AD采樣

較通常8位采樣測(cè)值更加，確保能快速、準(zhǔn)確地對(duì)缺陷的回波信號(hào)進(jìn)行顯示和分析，對(duì)各種弱小信號(hào)的變化和細(xì)節(jié)都能及時(shí)響應(yīng)，回波信號(hào)的實(shí)時(shí)性和真實(shí)性得到有效的保證。

超長(zhǎng)待機(jī)：10/20小時(shí)，擺脫充電煩惱

世界上首款在充滿(mǎn)電的情況下可連續(xù)工作20個(gè)小時(shí)，這使得檢測(cè)的時(shí)候更加靈活，效率更高，再不用擔(dān)心因電量不足而耽擱工作。解決野外長(zhǎng)時(shí)間工作操作時(shí)間普遍不能滿(mǎn)足的難題。

高亮真彩，強(qiáng)光可見(jiàn)，屏幕亮度5級(jí)可調(diào)，節(jié)電環(huán)保

工業(yè)級(jí)寬溫硬件操作，元器件，極低故障率

鎂鋁合金外殼，堅(jiān)固耐用，有效防止電磁干擾

操作

常用功能一鍵直達(dá)

常用功能只需按一個(gè)健就可以開(kāi)始進(jìn)行相關(guān)的操作，功能和菜單的安排得到合理優(yōu)化，大大簡(jiǎn)化操作步驟，使檢測(cè)更方便容易。

菜單布局合理

與國(guó)際主流菜單布局接軌，方便考察和交流。三級(jí)菜單布局合理，根據(jù)控制面板的提示，操作者很容易找到需操作的按鍵。

自動(dòng)校準(zhǔn)：聲速、探頭延遲、角度/K值

打破傳統(tǒng)繁瑣的手動(dòng)校準(zhǔn)模式，只需進(jìn)行簡(jiǎn)單的參數(shù)設(shè)置，細(xì)小的數(shù)據(jù)調(diào)整。