產(chǎn)品詳細(xì)說明

名稱:高數(shù)字式探規(guī)
 
型號:NT12, NT30
 
品牌:JENA
 
原產(chǎn)地:Germany
 
產(chǎn)品簡介
 
應(yīng)用：
直線度檢測
平面度檢測
幾何公差測量
硅晶片的厚度測量
量塊校準(zhǔn)
直線導(dǎo)軌的誤差測量
計(jì)量和生產(chǎn)控制
量塊校準(zhǔn)和測量設(shè)備的檢查
多點(diǎn)檢測設(shè)備
位置測量
 
 
產(chǎn)品規(guī)格
規(guī) 格：NT 12; NT 30
測量范圍：12 mm; 30 mm
分 辨 率：0.05µm; 0.1µm; 0.2µm; 0.5µm; 1.0µm
移動速度：Max: 72m/min
參考點(diǎn)位置：上限以下 5 &plun; 0.5mm 處
等級：&plun;1 µm
測桿驅(qū)動方式：手 動 / 氣 動
護(hù)等級：IP 64
輸出信號：1Vpp/11µApp/RS 422
電源電壓：DC 5V&plun;10%
線 長： 標(biāo)準(zhǔn): 1.5m (Max: 30m )
 
 
產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)
全行程測量高— &plun; 1 µm
重現(xiàn)性高— 0.05 µm
專為工業(yè)環(huán)境設(shè)計(jì)—護(hù)等級IP64
結(jié)構(gòu)緊湊，安裝方便快捷
多種結(jié)構(gòu)配置可供選擇
堅(jiān)固的設(shè)計(jì)—高的機(jī)械和熱穩(wěn)定性
為多點(diǎn)式測量設(shè)備設(shè)計(jì)
簡化檢測裝置的構(gòu)造
無需反復(fù)校準(zhǔn)，測量長期穩(wěn)定
球型探頭可承受較大的徑向力且摩擦力很小
 
 
主要市場
半導(dǎo)體設(shè)備，各種需要高、小行程的檢測設(shè)備

原廠網(wǎng)站：www.numerikjena.de

型號舉例：NT-122ABPG0