品牌 | 上海舜宇恒平 | 型號(hào) | 723;7230G |
波長(zhǎng)范圍 | 325~1100nm(步進(jìn)間隔0.1nm)(nm) | 外形尺寸 | 455*430*220(mm) |
適用范圍 | 工廠、學(xué)校、冶金、農(nóng)業(yè)、食品、生化、、石油化工、衛(wèi)生等單位的基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)室。 |
型號(hào) | 7230G | 72C |
帶寬 | 4nm | 2nm |
波長(zhǎng)范圍 | 325~1100nm(步進(jìn)間隔0.1nm) | |
波長(zhǎng)準(zhǔn)確度 | &plun;1.0nm(開機(jī)自動(dòng)校準(zhǔn)) | |
波長(zhǎng)重復(fù)性 | 0.5nm | |
測(cè)定范圍 | T:-1.0~200.0%T,A:-0.5~3.000Abs,F:0~9999,C:0~9999 | |
比準(zhǔn)確度 | &plun;0.5%T | |
比重復(fù)性 | &plun;0.2%T | |
雜 | ≤0.3%T(在360nm處) | ≤0.2%T(在360nm處) |
穩(wěn)定性/基線漂移 | &plun;0.003A/h | &plun;0.002A/h |
基線直線性 | / | &plun;0.004A |
顯示器 | 128×64大屏幕液晶顯示 |
軟件型號(hào) | 適用儀器 | 軟件功能 |
UV-Solution 1.0 | 7230G | 定量測(cè)試、吸光度等功能 |
UV-Solution 2.0 | 72C | 定量測(cè)試:可進(jìn)行一、二、三階擬合標(biāo)準(zhǔn)曲線測(cè)試,多可通過(guò)20個(gè)標(biāo)樣建立標(biāo)準(zhǔn)曲線。可選擇單波長(zhǎng),雙波長(zhǎng)或三波長(zhǎng)條件下測(cè)試。動(dòng)力學(xué)測(cè)試:對(duì)樣品進(jìn)行時(shí)間掃描,測(cè)試時(shí)間可達(dá)7天。采樣時(shí)間0.5、1、2、5、10、30、60秒可選,可保存10000條測(cè)試數(shù)據(jù)。波長(zhǎng)掃描:在任意波長(zhǎng)范圍內(nèi)以0.1、0.2、0.5、1、2、5nm的掃描間隔對(duì)樣品進(jìn)行掃描,并對(duì)圖譜進(jìn)行縮放、平滑、四則運(yùn)算、坐標(biāo)調(diào)整、峰/谷自動(dòng)檢測(cè)、1~4階導(dǎo)數(shù)等數(shù)據(jù)處理,可容納八個(gè)掃描圖譜。多波長(zhǎng)測(cè)試:多可設(shè)置15個(gè)測(cè)試波長(zhǎng)點(diǎn)。數(shù)據(jù)導(dǎo)出:數(shù)據(jù)和圖譜可導(dǎo)出為txt和bmp格式文件供用戶編輯。 |