NaU-E600能量色散型X熒光光譜儀主要特點(diǎn)：

全光路輻射護(hù)；全自動(dòng)模塊化控制；人性化操作界面；綜合應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法等多種經(jīng)典分析方法, 可滿足RoHS/WEEE相關(guān)管控要求。精心設(shè)計(jì)的開(kāi)放性工作曲線功能，根據(jù)企業(yè)物料情況量身定做，從而得到為準(zhǔn)確、的分析測(cè)試結(jié)果，適用于多材料的工廠制程控制。

 納優(yōu)系列儀器合國(guó)際電工委員會(huì)IEC62321標(biāo)準(zhǔn)及中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的技術(shù)要求和技術(shù)規(guī)范。

•   自選式功能組合
    用戶根據(jù)自己的控制要求，可自主選擇多元素測(cè)試軟件或膜厚測(cè)試軟件（二選一）
•   全自動(dòng)配置
    全自動(dòng)化的操作模式、人性化的操作界面，測(cè)試人員通過(guò)鼠標(biāo)即可完成操作(原級(jí)濾光片、準(zhǔn)直器、樣品的移動(dòng)和樣品蓋的開(kāi)關(guān)、工作曲線的選擇實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化控制，程序會(huì)根據(jù)預(yù)先設(shè)定的測(cè)試條件自動(dòng)進(jìn)行的切換動(dòng)作)；

•   照射區(qū)控制系統(tǒng)
    可調(diào)整的X光照射區(qū)域控制系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了對(duì)測(cè)試區(qū)域的準(zhǔn)確把握。測(cè)試數(shù)據(jù)與實(shí)際檢測(cè)區(qū)域的對(duì)應(yīng)。

•   成熟、經(jīng)典的分析方法：
    憑借“七·五”“九·五”科技攻關(guān)計(jì)劃之科技成果，集成近二十五年分析測(cè)試應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)的經(jīng)典數(shù)學(xué)分析模型，為測(cè)試者提供、精準(zhǔn)、穩(wěn)定的分析結(jié)果。

•   強(qiáng)大的軟件功能
    1、分析軟件可根據(jù)樣品材質(zhì)、形狀、大小的不同自動(dòng)設(shè)定光管功率，既能延長(zhǎng)光管使用壽命又能充分發(fā)揮探測(cè)器性能，大幅測(cè)量；

    2、提供開(kāi)放式工作曲線標(biāo)定技術(shù)平臺(tái),可為每家用戶量身定做的有害物質(zhì)檢測(cè)和控制方案；

    3、融合了一系列的光譜處理方法，包括FFT（快速傅立葉變換濾波）、精準(zhǔn)的背景扣除方法、微商自動(dòng)尋峰和Quasi-Newton(準(zhǔn)牛頓)優(yōu)化算法等；

    4、國(guó)際的XRF分析軟件，融合了包括經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法（FP法）、理論α系數(shù)法等多種經(jīng)典分析方法，測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。

•   開(kāi)放性工作曲線
    用戶可很方便的根據(jù)自身材質(zhì)狀況，針對(duì)性的建立風(fēng)險(xiǎn)材料的工作曲線，工作曲線與被測(cè)材料的對(duì)應(yīng)性。從而大幅度風(fēng)險(xiǎn)物質(zhì)的檢測(cè)，來(lái)料允收判定依據(jù)的性。

•   嚴(yán)謹(jǐn)?shù)挠布膳c結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
    對(duì)可能影響整機(jī)度及穩(wěn)定性的器件，采用高端原廠器件。

    模塊化設(shè)計(jì)與組件選擇，了整機(jī)性能的穩(wěn)定性與未來(lái)服務(wù)的操作簡(jiǎn)便性。

    設(shè)計(jì)的原級(jí)、二次濾光系統(tǒng)，既了對(duì)有害元素的激發(fā)效率，同時(shí)降低了作為干擾因素的背景強(qiáng)度，充分峰背比，大幅度降低檢出下限。

•   全光路射線護(hù)系統(tǒng)
    X光管、探測(cè)器、復(fù)合濾光處理系統(tǒng)、CCD、定位系統(tǒng)、全自動(dòng)準(zhǔn)直器切換系統(tǒng)等光路處理器件均集成在密閉結(jié)構(gòu)中。光路系統(tǒng)的穩(wěn)定性與密閉性，充分了測(cè)試。

    合理的8種復(fù)合濾光片組合和自動(dòng)切換系統(tǒng)，既可以降低來(lái)自原級(jí)X射線干擾的影響，被測(cè)元素的靈敏度和測(cè)試，同時(shí)還具有輻射自動(dòng)護(hù)功能，保護(hù)操作者。

    散熱系統(tǒng)，大幅度提供儀器的性。全光路射線護(hù)設(shè)計(jì)，又避免了無(wú)射線區(qū)域的無(wú)謂屏蔽與保護(hù)，進(jìn)一步了散熱效率。了儀器的環(huán)境適應(yīng)性與穩(wěn)定性。

    全光路輻射護(hù)配合經(jīng)典的迷宮式輻射護(hù)設(shè)計(jì)，同時(shí)采用軟、硬件雙重連鎖，操作人員人身。

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NaU-E600 產(chǎn)品參數(shù)(product parameter)

產(chǎn)品名稱 (product name)：Nayur X熒光無(wú)鹵分析儀 (Nayur halogen-free XRF)

型    號(hào)(te)：NaU-E600

測(cè)試對(duì)象(test object)：粉未、固體、液體(powder, solid, liquid)

測(cè)量時(shí)間(test time)：100-200s

管壓(tube voltage)：10KV-50KV

管流(tube flow)：50uA-1000uA

環(huán)境溫度(environment temperature)：15℃-30℃

環(huán)境濕度(environment humidity)：30%-80%

樣品腔面積(sample cavity dimension )：400mm×400mm×100mm

外形尺寸(instrument dimension)：730mm×440mm×330mm

重量(weight)：30Kg

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NaU-E600 產(chǎn)品配置( product configure)

高分辨率電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器(high-resolution electric refrigeration semiconductor detector)

鹵素測(cè)試配件(halogen test accessory)

光路優(yōu)化系統(tǒng)(optical optimization system )

內(nèi)置高清晰CCD攝像頭(high-resolution CCD camera)

自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片collimators and filters automatic switching system

全自動(dòng)定位測(cè)試系統(tǒng)(automatic positioning test system)

樣品倉(cāng)自動(dòng)開(kāi)關(guān)裝置(fully automatic sample cavity)

三重保護(hù)模式（triple security protected mode）