品牌	德國SPETROMAXX-D	型號	MAX-110
光源	LED	適用范圍	鑄造、電子、加工行業(yè)

德國斯派克分析儀器公司開發(fā)出了一種其成功的技術(shù)，把偏振X射線應(yīng)用于熒光分析。正如現(xiàn)今在拍攝高質(zhì)量圖片時偏振濾光片是的工具一樣，這種的分析技術(shù)已成為實驗室測定主量、次量和痕量元素的手段。斯派克分析儀器公司不斷發(fā)展這一技術(shù)，并推出了新一代的儀器—SPERO XEPOS臺式偏振X射線熒光光譜儀。 擴(kuò)展的偏振光學(xué)系統(tǒng)（Extended Polarization Optical System）次使用50W量X射線管發(fā)出的原始X射線作為輻射源，用于Na-U元素的同時分析，從X射線發(fā)出的原始X射線通過量偏振光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行聚集，得到的偏振且部分單色的X射線可以高靈敏地測定各種元素。這種分析技術(shù)在許多應(yīng)用中不需要高吸收輻射的濾光片。 SPERO XEPOS具有廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域—從石化、建材、廢物處理以及再加工工業(yè)到直接產(chǎn)品控制。油中各種元素的分析便是一例。使用SPERO XEPOS，在氮氣保護(hù)狀態(tài)下，在300秒鐘之內(nèi)，對于元素 P、S、Cl、Ca、Cu、Zn和Ba的檢測下限在1—7ｕg/g。在檢出下限以上，測量的重現(xiàn)性RSD≤1％。SPERO XEPOS也適用于耐火材料及陶瓷工業(yè)的分析。采用四硼酸鋰熔片制樣法時，樣品中主要成分測量的重現(xiàn)性RSD＝0.22％。 XEPOS型X射線熒光光譜儀可廣泛應(yīng)用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、（汞）等元素分析，檢出下限低，靈敏度高、穩(wěn)定性好，可應(yīng)對歐洲WEEE、RoHS指令以及SONY STM-0083標(biāo)準(zhǔn)。