| 類型 | 偏光顯微鏡 | 型號(hào) | XP-K |
產(chǎn)品說(shuō)明
偏光顯微鏡主要用來(lái)鑒別各向同性物質(zhì)和各向異性（即雙折射性）物質(zhì)。而各向異性是許多晶體的基本物性，因此偏光顯微鏡是學(xué)、地質(zhì)學(xué)和機(jī)械、冶金等部門用來(lái)研究結(jié)晶、礦物、巖石和金相組織的重要工具。生物體中也有各向異性的結(jié)構(gòu)如骨骼、鱗片、牙齒等，所以它也為生物學(xué)所需。隨著社會(huì)科學(xué)技術(shù)的進(jìn)步發(fā)展，偏光顯微鏡的應(yīng)用范圍逐步擴(kuò)大。 偏光顯微鏡可廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、冶金、石油、半導(dǎo)體工業(yè)、化工、紡織、、制藥檢驗(yàn)等行業(yè)以及各類院校相關(guān)教學(xué)、實(shí)驗(yàn)室研究使用。 XP-K型偏光顯微鏡光學(xué)、機(jī)械性能優(yōu)良，觀察舒適，操作使用方便，可在單偏光、正交偏光、錐光狀態(tài)下對(duì)均勻或非均勻、透明或非透明礦物以及相關(guān)試樣薄片進(jìn)行觀測(cè)鑒定，也可通過(guò)配備各種顯微成像設(shè)備獲得如照片或者數(shù)碼圖像數(shù)據(jù)等形式的影像資料。儀器還配置有石膏（λ）插片、云母（λ/4）插片、石英楔子插片和移動(dòng)尺等附件，可以幫助您獲得更加理想的觀察效果。 |
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