氣內(nèi)測校（盲孔）QC SN-B型
φ3~φ150mm
每套氣內(nèi)測校含上下限校對規(guī)及氣內(nèi)測頭各1支。
與AQF浮標式氣動量儀配套，用作一般形式的盲孔及臺階孔測量。
被測孔長度：>8 mm
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氣內(nèi)測校使用方法
測量頭的標準件是上、下限校對規(guī)（環(huán)規(guī)）各一個，用來校正量儀的倍率。測量時，將測量頭被測孔內(nèi)，量儀指示的數(shù)值為被測孔內(nèi)徑的誤差值。如果將測量頭沿被測孔作軸向移動，量儀指示的差值為孔在移動范圍內(nèi)的錐度。如果測量頭在被測孔內(nèi)作相對轉(zhuǎn)動，則可測得被測孔的圓度。
測量頭的標準件是上、下限校對規(guī)（環(huán)規(guī)）各一個，用來校正量儀的倍率。測量時，將測量頭被測孔內(nèi)，量儀指示的數(shù)值為被測孔內(nèi)徑的誤差值。如果將測量頭沿被測孔作軸向移動，量儀指示的差值為孔在移動范圍內(nèi)的錐度。如果測量頭在被測孔內(nèi)作相對轉(zhuǎn)動，則可測得被測孔的圓度。
