- 品牌/商標(biāo)：-
- 企業(yè)類型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：韓國
使用K-MAC公司的先進光譜系統(tǒng)，可以很快、很容易地測量透光或者半透光薄膜的厚度、折射率及消光系數(shù)。簡單地將K-MAC系統(tǒng)插入您電腦的USB口，并開始進行測量。整個系統(tǒng)只需要幾分鐘來搭建，而測量過程也僅需要基礎(chǔ)的電腦知識。
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應(yīng)用領(lǐng)域： 半導(dǎo)體 多晶硅, GaAs, GaN, InP, ZnS, SiGe … 電介質(zhì)材料 SiO2, Si3N4, TiO2, ITO, ZrO2, BTS, HfO2 … 聚合物 PVA, PET, PP, PR … LCD a-Si, n+a-Si, ITO, 氧化物, 液晶盒, 光阻材料膜，聚酰亞胺膜，石英 … 光學(xué)鍍膜 硬鍍，抗反射膜，濾光片，包裝膜，功能膜 可記錄材料 感光鼓，視頻頭，光盤 … 其它 CRT和顯象管蔭罩上的光阻材料膜，薄金屬膜，激光鏡，AlQ3… |
