產(chǎn)品簡介：

以下為標(biāo)準(zhǔn)配置，每一臺機(jī)器都具備以下功能:
測試功能
自動學(xué)習(xí)、優(yōu)化和調(diào)整測試方法
自動隔離
IC 漏插及方位檢測
顯示十個多錯誤組件情況
重復(fù)測試
針號檢索功能
自我診斷功能
在掃描儀和探針閑刪除游離電容以得到準(zhǔn)確的小電容值
提供每天或累計測試結(jié)果電容
恒壓源充電方式能測試速度
軟件特性:
強(qiáng)調(diào)試方式
主要針對作進(jìn)一步微調(diào)學(xué)習(xí)和測試程序，優(yōu)化測試結(jié)果，可編改驅(qū)動電流，延遲時間及測試頻率。
操作簡易
只要經(jīng)過簡易的講解，就可熟練操作，無須太多技術(shù)知識。
測試程序產(chǎn)生器 (ATG)(可選) 大多數(shù)CAD文件通過FABMASTER ATG 轉(zhuǎn)換到測試程序 ，數(shù)據(jù)不會丟失，省時，效率高。
數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器 (DTG)
很多其它品牌的I測試程序可通過DTG轉(zhuǎn)換到T310格式,避免重新編程及數(shù)據(jù)丟失。
硬件特性
性測試
直接合成數(shù)碼波形產(chǎn)生器（DDS）及數(shù)碼濾波技術(shù)（DFT）提供可編程的正弦波，具有穩(wěn)定、低失真，高訊噪比，從而了測試的性。
度
使用16位D/A和A/D，具備64K分解度；獲得高測試。
開爾芬:
開爾芬8線測試用以測量低電阻及電感。
反插探測
電解電容反插檢測
透過測量外殼的電壓或漏電電流可判別電容是否反插。
晶體管三點測試。
二管測試
可區(qū)別功率、訊號和齊納二管。