QS-100-P6型智能晶體測試儀

產(chǎn)品簡介：  

QS-100-P6型智能晶體測試儀是一款MHz晶體、晶片測試儀，可以測試1～8路晶體頻率。它采用微處理器技術，實現(xiàn)了智能化測量。本儀器采用倒數(shù)計數(shù)技術實現(xiàn)等測量。它測量高，靈敏度高，速度快，測量速度可調節(jié)；具有頻率測量、PPM測量功能；中心頻率（標稱頻率）F0、上限PPM值Pu 、下限PPM值PL可任意設定并能存儲。儀器具有RS-232C通訊接口，可以和PC、PLC等機雙向通訊，并配有繼電器觸點（或OC）輸出，適合于晶體上片機、包裝機的配套，晶體生產(chǎn)行業(yè)對白片、成品等的測量，也是郵電、通信、廣播電視、學校、研究所及工礦企業(yè)等晶體使用單位的好幫手。

主要技術指標：

1． 測量路數(shù)：1～8路，用戶訂購時確定

2． 頻率測量：1MHz～60MHz（自帶起振）

             1Hz～ 100MHz（外部起振）

3． PPM測量：－9999～＋9999ppm

4． 測量：0.05ppm/秒

5． 測量時間：50ms～500ms 連續(xù)可調節(jié)

6． 報警聲響方式：不響、不合格時響（NG）、合格時響（OK）可選

7． 通訊方式：雙向RS-232C               波特率：9600

8． 內部晶振穩(wěn)定度：常溫下  1×10^－6／日

9． 可測晶體尺寸：SMD：7050、6035、5032、3225、2520、2016

                 常規(guī)：49S、49U、DIP8、DIP14……  （可按需定制）

歡迎各晶體生產(chǎn)廠商、設備生產(chǎn)廠商垂詢、選購。

南京勤笙電子有限公司

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