- 品牌/商標(biāo):梅特勒
- 企業(yè)類型:制造商
- 新舊程度:全新
- 原產(chǎn)地:瑞士
梅特勒微量天平XP2U 成都博飛特,電子天平,微量天平 標(biāo)準(zhǔn)配置 |
內(nèi)置QA特點 | ||||||||||||||||||
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的稱量性能: XP2U超微量天平達(dá)到了無與倫比的0.2 μg(加載0.2 g)典型重復(fù)性;這對于顯著地降低您的成本來說至關(guān)重要。 |
直觀的操作: |
輕松通過審查: |
SmartSens紅外感應(yīng)器: |
連通性: |
U形去靜電裝置(選件): |
規(guī)格 - XP2U超微量天平
極限值 XP2U
稱量值 2.1 g
可讀性 0.0001 mg
重復(fù)性(sd) - 加載處 0.00025 mg
- 低加載(加載處) 0.0002 mg (0.2 g)
線性誤差 0.001 mg
靈敏度漂移 1.5 x 10-5
靈敏度溫度漂移 2) 0.0001 %/°C
靈敏度穩(wěn)定性 3) 0.0001 %/a
典型值 4)
典型重復(fù)性(sd) 0.00015 mg+2.5 x (10–8)· R_gr
典型微分非線性(sd) √8x(10-14) · g · R_nt
典型靈敏度偏移(sd)2) 3x(10-6)· R_nt
典型小稱量值*(符合USP) 0.45 mg+7.5 x (10–5) · R_gr
典型小稱量值* (@ U=1 %, 2 sd) 0.03 mg+5 x (10–6) · R_gr
典型穩(wěn)定時間 < 10 s
1) 根據(jù)OIML R76
2) 在10到30°C的溫度范圍內(nèi)
3) 次安裝,使用proFACT校準(zhǔn),靈敏度穩(wěn)定性
4) 能用于估計不確定度 sd=標(biāo)準(zhǔn)偏差 Rgr=毛重 Rnt=凈重(樣品質(zhì)量) a=年
* 重復(fù)性和小稱量值可以通過以下措施得以改進(jìn):- 選擇適當(dāng)?shù)姆Q量參數(shù)設(shè)置,- 選擇合適的天平放置位置,- 使用較小的去皮容器。