- 品牌/商標(biāo):廣州標(biāo)旗電子科技有限公司
- 原產(chǎn)地:廣州
TMS是一套全波長的0度角透過率檢測(cè)儀,能快速準(zhǔn)確地測(cè)量各類平面光學(xué)元件的透射率,可用于實(shí)時(shí)在線檢測(cè),實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢。適用于棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學(xué)元件的檢測(cè)。
TMS透過率測(cè)試儀-技術(shù)參數(shù)
型號(hào) |
TMS(I型) |
TMS(II型) |
探測(cè)器 |
Sony線形CCD 陣列 |
Hamamatsu背照式2D-CCD |
檢測(cè)范圍 |
380-1000nm |
360-1100nm |
波長分辨率 |
1nm |
1nm |
信噪比(全信號(hào)) |
250:1 |
1000:1 |
相對(duì)檢測(cè)誤差 |
﹤0.5%(400-800nm) |
﹤0.2%(400-800nm) |
單次測(cè)量時(shí)間 |
﹤1s |
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樣品尺寸 |
≥ Φ3mm |
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操作系統(tǒng)/接口 |
Windows XP,
Windows Vista/ USB2.0 |
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電源/功率 |
220V-50HZ /6W |
TMS透過率測(cè)試儀-獨(dú)特的軟件設(shè)計(jì)
l 智能化軟件操作:可自定義測(cè)量方式和角度,實(shí)時(shí)顯示測(cè)量樣品關(guān)注波長位置的透/反射率數(shù)據(jù),自動(dòng)調(diào)整顯示坐標(biāo)范圍,高效地進(jìn)行批量樣品檢測(cè)及譜圖對(duì)比分析。
l 譜圖管理:可同時(shí)記錄多達(dá)20個(gè)樣品譜圖,批量保存測(cè)量結(jié)果,記錄譜圖測(cè)試積分時(shí)間,能對(duì)譜圖進(jìn)行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作,程度地方便了譜圖的管理和分析。
l 自定義測(cè)量方案:用戶可以自行定義測(cè)量的方案,同時(shí)設(shè)置判定標(biāo)準(zhǔn),使檢測(cè)更快速,結(jié)果更準(zhǔn)確。
l 譜圖數(shù)據(jù)處理功能:備有豐富的光學(xué)元件數(shù)據(jù)庫,可根據(jù)數(shù)據(jù)庫已存標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)對(duì)比分析結(jié)果,用戶可自行對(duì)數(shù)據(jù)庫進(jìn)行添加、修改和刪除,還可將測(cè)量數(shù)據(jù)導(dǎo)入Excel有利于進(jìn)一步對(duì)譜圖進(jìn)行分析和研究。
l CIE顏色測(cè)量功能:可以計(jì)算樣品各種CIE顏色參數(shù), x,y,L,a,b,飽和度,主波長等。