X熒光光譜儀 EDX4500的詳細(xì)信息

性能參數(shù)產(chǎn)品型號：EDX 4500產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）元素含量分析范圍： ppm —99.99%（不同元素，分析范圍不同）同時分析元素：性可測幾十種元素分析：0.05% （含量高于96%以上的樣品、21次測試穩(wěn)定性）測量時間：60秒-200秒探測器能量分辨率為：145 ±5eV管壓：5KV-50KV管流：50μA-1000μA測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體輸入電壓：AC 110V/220V環(huán)境溫度：15℃-30℃環(huán)境濕度：35%-70%樣品腔體積：320mm × 100mm外形尺寸：660mm × 510mm × 350mm重量：65Kg性能特點高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到國際先進(jìn)水平新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計數(shù)率達(dá)到100000CPS，更高。在合金檢測中效果更好SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比天瑞儀器產(chǎn)品 —信噪比增強器（SNE），提高信號處理能力25倍以上低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性高信噪比的電子線路單元針對不同樣品自動切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應(yīng)得到明顯的抑制內(nèi)置高清晰攝像頭液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然標(biāo)準(zhǔn)配置高效超薄窗X光管SDD硅漂移探測器數(shù)字多道技術(shù)信噪比增強器 SNE鋼鐵行業(yè)測試專用配件光路增強系統(tǒng)高信噪比電子線路單元內(nèi)置高清晰攝像頭自動切換型準(zhǔn)直器和濾光片自動穩(wěn)譜裝置三重安全保護(hù)模式相互獨立的基體效應(yīng)校正模型多變量非線性回歸程序整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度可靠的保證90mm × 70mm的液晶屏真空泵應(yīng)用領(lǐng)域鋼鐵檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素等）