供應(yīng)精密分析儀的詳細(xì)信息

▲ 測(cè)試頻率20Hz-1MHz，度0.02%
▲ 基本量測(cè)準(zhǔn)確度：0.1%
▲ 3種阻抗輸出模式選擇，測(cè)量結(jié)果可與各之LCR表完全對(duì)比
▲ 增強(qiáng)式圈數(shù)比準(zhǔn)確測(cè)量，適用于低磁導(dǎo)率的磁芯
▲ 高速LCR量測(cè)，快80次/秒
▲ 高速DCR量測(cè)，快50次/秒
▲ 偏壓電流源直接控制功能
▲ 大型LCD顯示(320*240點(diǎn)矩陣)
▲ 提供各式標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試冶具及特殊治具訂制
▲ 四端測(cè)試冶具，可得到DCR，電感量和圈數(shù)比穩(wěn)定的測(cè)量
▲ 內(nèi)建式比較器，10級(jí)分類及計(jì)數(shù)功能
▲ 50組內(nèi)部?jī)x器設(shè)定可供儲(chǔ)存及呼叫

　主要功能 　變壓器掃描測(cè)試+LCR測(cè)試 測(cè)試參數(shù) 　變壓器掃描測(cè)試 圈數(shù)比(Turn Ratio)、相位(Phase)、圈數(shù)(Turn)、電感(L)、品質(zhì)因子(Q)、漏電感(LK),平衡(Balance),交流電阻(ACR),電容(Cp),直流電阻(DCR),接腳短路(Pin Short) 　LCR測(cè)試 電感(L)、電容(C)、電阻(R)、阻抗值(IZI)、阻抗的導(dǎo)納(Y)、直流電阻(DCR)、品質(zhì)因子(Q)、損耗因子(D)、電阻(R)、電抗(X)、相位角(θ) 測(cè)試信號(hào) 　測(cè)試電壓 Turn 　10mV～10V,±10%,10mV/step 其他 　10mV～2V, ±10%,10mV/step 　測(cè)試頻率 Turn 　1KHz～1MHz, ±0.02% 解析度：0.01Hz 其他 　20KHz～1MHz, ±0.02% 解析度：0.01Hz 　輸出阻抗 Turn 　10Ω,當(dāng)測(cè)試位準(zhǔn)≤2V
　50Ω,當(dāng)測(cè)試位準(zhǔn)＞2V 其他 　Constant=OFF:依電阻范圍不同而定
　Constant=320X: 100Ω ±0.5%
　Constant=107X: 25Ω ±0.5%
　Constant=106X: 50Ω 100mA±0.5%(1V設(shè)定)
　電感負(fù)載小于10Ω,10Ω±10%,阻抗≥10Ω 測(cè)量顯示范圍 　L,LK 　0.00001μH～9999.9H 　C 　0.00001pF～999.999mF 　Q,D 　0.00001～99999 　Z,X,R 　0.00001Ω～99.9999MΩ 　Y 　0.01Ns～99.9999S 　θ 　-90.00～＋90.00 　DCR 　0.01mΩ～99.9999MΩ 　Turn 　0.01～9999.99圈(次電壓小于100Vrms) 　Pin Short 　11組,接腳與接腳之間 基本準(zhǔn)確度 L,LK,C,Z,X,Y,R,DCR 　0.1% (若為AC參數(shù)1KHz) 　Q,D 　0.0005(1KHz) 　θ 　0.03°(1KHz) 　Turn 　0.5%(1KHz) 測(cè)量速度(快速度) L,LK,C,Z,X,Y,R,Q,D,θ 　80 meas./sec. 　DCR 　50 meas./sec. 　Turn 　10 meas./sec. 判 定 方 式 　變壓器掃描測(cè)試 　各測(cè)試參數(shù)之良品／不良品判定由選購(gòu)之處理器界面輸出 　LCR測(cè)試 　10級(jí)分類及總合計(jì)數(shù)由選購(gòu)之處理器界面輸出良品
　/不良品判定由標(biāo)準(zhǔn)處理器界面輸出 　顯 示 器 　320×240點(diǎn)矩陣LCD液晶顯示器
　開路(open)、短路（Short）歸零，負(fù)載修正 　記 憶 體 　50組儀器設(shè)定，可藉由記憶卡擴(kuò)充 　等效電路模式 　串聯(lián)、并聯(lián) 　觸 發(fā) 　內(nèi)部，手動(dòng)，外部