Multimode 掃描探針顯微鏡
     Multimode型系統(tǒng)是世界上分辨率、使用廣泛的商用掃描探針顯微鏡。界面友好、功能強(qiáng)大的軟件及精簡(jiǎn)的硬件設(shè)計(jì)，使得Multimode可以方便地獲取從微米尺度到原子尺度的圖像數(shù)據(jù)，具有極高的工作效率、極強(qiáng)的靈活性和可靠性。
 
     Multimode型掃描探針顯微鏡可提供多種可選擇的掃描范圍，滿足各種實(shí)驗(yàn)需要的；它擁有十余種操作模式，能夠?qū)崿F(xiàn)現(xiàn)在所有已知的SPM技術(shù)。
 
    Multimode所采用的NanoScope IIId控制器，集先進(jìn)的模擬電路及數(shù)字電路于一身，具有功能強(qiáng)大的實(shí)時(shí)軟件系統(tǒng)及多任務(wù)的控制能力。在每個(gè)軸向上，均有三個(gè)獨(dú)立的16位數(shù)模轉(zhuǎn)換通路提供信號(hào)給壓電陶瓷管，因此壓電陶瓷管在掃描的時(shí)候，可以非常自如地在百微米范圍到幾個(gè)納米范圍之間縮放，而不必要重新掃描。同時(shí)，Veeco的技術(shù)Quadrex，進(jìn)一步增強(qiáng)了信號(hào)相位檢出能力，因此可以使AFM獲得更加的相位信號(hào)
 
    Multimode的加熱/制冷附件可以對(duì)樣品進(jìn)行加熱和冷卻，適合于研究生物、聚合物以及其他材料樣品在不同溫度下的特性。該加熱/制冷附件可以控制樣品溫度在-35oC到250oC范圍，并可以在水、溶液或緩沖體系中測(cè)量樣品。Multimode的環(huán)境控制艙可以根據(jù)實(shí)際需要控制常壓下的氣體組分，因此使AFM可以測(cè)量不同氣氛分壓下的樣品性能。