CTG2300涂覆層測厚儀的詳細信息

/*110922_中文版_新中間頁_中間_300*250*/ var cpro_id = 'u620430'; CTG2300涂覆層測厚儀 CTG2300型便攜式涂覆層測厚儀可快速、無損、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。本儀器能廣泛地應(yīng)用在電鍍、防腐、航天航空、化工、汽車、造船、輕工、商檢等檢測領(lǐng)域。配置不同的測頭，適用于不同場合。根據(jù)測頭類型的不同，采用了磁性法和渦流法兩種測厚方法。F型測頭采用磁性法，可測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)。N型測頭采用渦流法，可測量非鐵磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)和奧氏體不銹鋼上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等)。 主要特點          (2% 1)/(1% 1)測值高        測量響應(yīng)時間短，測值速度快        分體式設(shè)計，適用性強、測值穩(wěn)定         強大的數(shù)據(jù)處理分析：5種統(tǒng)計值和直方圖        7種測頭(F400、F1、F1/90°、F10、N400、N1、CN02)可供選擇，滿足客戶多種測量需求        CTG Insight數(shù)據(jù)處理平臺實現(xiàn)數(shù)據(jù)的分析和管理  性能指標 測量范圍F400：0~400μm N400：0~400μmF1：0~1250μm F1/90：0~1250μmN1：0~1250μm F10：0~10000μmCN02：10~200μm測量F400、N400測頭             一點校準：±（2% 0.７）二點校準：±（1% 0.７）F1、F1/90、N1、CN02測頭  一點校準：±（2% 1）   二點校準：±（1% 1）F10測頭                   一點校準：±（2% 10）  二點校準：±（1% 10）校準方法一點校準/二點校準/基本校準顯示分辨率0.1μm（測量范圍小于100μm）  1μm （測量范圍大于100μm）重量250g（包括電池組）工作環(huán)境溫度：0℃~50℃ 濕度：20%～90%工作方式直接方式和成組方式測量方式連續(xù)測量/單次測量關(guān)機方式手動關(guān)機/自動關(guān)機操作提示音樂鈴聲，錯誤提示信號處理閾值限界對限界外的測量值能自動報警數(shù)據(jù)分析可用直方圖對一批測量值進行分析統(tǒng)計量平均值（MEAN）/標準偏差（S.DEV）/測試次數(shù)（No.）/測試值（MAX）/小測試值（MIN）存儲厚度值500個數(shù)據(jù)刪除單個可疑數(shù)據(jù)/組內(nèi)所有數(shù)據(jù)輸入輸出打印測量值、統(tǒng)計值、限界、直方圖通訊RS232/USB電源電池商業(yè)鎳氫/堿性電池    9V電源監(jiān)測欠壓指示標配主機                      1臺測頭(N1或F1)        1支標準片                   4片基體                      1塊9V堿性電池             1節(jié)使用說明書             1本選配應(yīng)用軟件CTG Insight串口熱敏打印測頭F400 N400 F10 CN02 F1/90  測頭型號F400F1F1/90°F10N400N1CN02工作原理磁    感    應(yīng)渦    流測量范圍(mm)0～4000～12500～100000～400    0～125010～200(銅上鍍鉻  0～40)低限分辨力(mm)0.10.1100.10.11示值誤差一點校準(mm)±(3%H 0.7)±(3%H 1)±(3%H 10)±(3%H 0.7)±(3%H 1.5)±(3%H 1)二點校準(mm)±(1%H 0.7)±((1%H 1)±(1%H 10)±(1%H 0.7)±（1%H 1.5）--------測試條件 小 曲 率 半徑(mm)凸11.5平直10凸1.53平直僅為平直 小面積 的 直徑(mm)F3F7F7F4F4F5F5F7基 體 臨 界 厚 度 (mm)0.20.50.520.30.30.3無限制            測頭選用參考表（1） 覆蓋層基體有機材料等非金屬覆蓋層(如:漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽極化處理等)覆蓋層厚度不超過100mm覆蓋層厚度超過100mm如鐵、鋼等磁性金屬被測面積的直徑大于30mmF400型測頭 0～400mmF1型測頭   0～1250mmF400型測頭 0～400mmF1型測頭   0～1250mmF10型測頭  0～10mm被測面積的直徑小于30mmF400型測頭 0～400mmF1型測頭