類型 | 薄膜測厚儀 | 品牌 | X熒光測厚儀 |
型號 | 測量范圍 | 0.0001(mm) |
我司有美國THERMO X-RAY測厚儀標準片和美國CalMetricsX光瑩光測厚儀標準片 測厚儀標準片又名膜厚儀校準片 用于測厚儀(膜厚儀)在測金屬鍍層厚度的時候進行的標準化校準 這樣使用使得測厚儀所測的誤差值變小 張賢群 對于PCB,半導體生產(chǎn)行業(yè),電鍍行業(yè) 使用測厚儀所造成的成本檢測起到了很重要的作用。 測厚儀標準片一般有分單層片,雙層片和多層片。如Cu為單層片Ag/Cu雙層片Cu-Zn/XX(Fe)多層片。 我司可以定做以知金屬元素的標準片如:Cu,Ni,Ag,Au,Zn,Sn等等 客戶在聯(lián)系我的時候請了解清楚自己所需要使用的元素,以便我們更好的溝通,合作。 |