型號/規(guī)格:BN-ZQ
產(chǎn)品描述:該試驗箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二管、液晶LCD、芯片電阻電容、組件產(chǎn)業(yè)電子組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導(dǎo)體、被動組...
型號/規(guī)格:BN-ZQ
產(chǎn)品描述:該試驗箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二管、液晶LCD、芯片電阻電容、組件產(chǎn)業(yè)電子組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導(dǎo)體、被動組...
型號/規(guī)格:HE-9721
產(chǎn)品描述:HE-9721蒸氣老化試驗箱 適用范圍: 適用于各電子連接器,被動元件及各具沾錫之電子產(chǎn)品,合安規(guī)MTL-STP-208F,202 1、內(nèi)部尺寸:50cm(W)×40c...
型號/規(guī)格:HE-9721
產(chǎn)品描述:HE-9721蒸氣老化試驗箱 適用范圍: 適用于各電子連接器,被動元件及各具沾錫之電子產(chǎn)品,合安規(guī)MTL-STP-208F,202 1、內(nèi)部尺寸:50cm(W)×40c...
型號/規(guī)格:XK
產(chǎn)品描述:蒸氣老化試驗箱/蒸汽老化試驗機/老化試驗機詳細介紹: 蒸氣老化試驗箱/蒸汽老化試驗機/老化試驗機適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二管、液晶LCD、芯片電...
型號/規(guī)格:XK
產(chǎn)品描述:蒸氣老化試驗箱/蒸汽老化試驗機/老化試驗機詳細介紹: 蒸氣老化試驗箱/蒸汽老化試驗機/老化試驗機適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二管、液晶LCD、芯片電...
型號/規(guī)格:HZ系列
產(chǎn)品描述:型號 HZ-A HZ-B 測試槽尺寸 (W×D×H)mm 92×285×40×2set 92×285×40×4set外箱尺寸 (W×D&time...
型號/規(guī)格:HZ系列
產(chǎn)品描述:型號 HZ-A HZ-B 測試槽尺寸 (W×D×H)mm 92×285×40×2set 92×285×40×4set外箱尺寸 (W×D&time...
型號/規(guī)格:BN-ZQ
產(chǎn)品描述:該試驗箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二管、液晶LCD、芯片電阻電容、組件產(chǎn)業(yè)電子組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導(dǎo)體、被動組...
型號/規(guī)格:BN-ZQ
產(chǎn)品描述:該試驗箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二管、液晶LCD、芯片電阻電容、組件產(chǎn)業(yè)電子組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗;半導(dǎo)體、被動組...
型號/規(guī)格:HJ-ZQ100
產(chǎn)品描述:一.箱體說明:1. 內(nèi)箱尺寸:50(W)×40(D)×17(H)cm2. 外箱尺寸:60(W)×50(D)×42(H)cm3. 單槽內(nèi)尺寸:9(W)×40(D...
型號/規(guī)格:HJ-ZQ100
產(chǎn)品描述:一.箱體說明:1. 內(nèi)箱尺寸:50(W)×40(D)×17(H)cm2. 外箱尺寸:60(W)×50(D)×42(H)cm3. 單槽內(nèi)尺寸:9(W)×40(D...
型號/規(guī)格:kd
產(chǎn)品描述:產(chǎn)品說明:該試驗箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗...
型號/規(guī)格:kd
產(chǎn)品描述:產(chǎn)品說明:該試驗箱適用于電子連接器、半導(dǎo)體IC、晶體管、二極管、液晶LCD、芯片電阻電容、零組件產(chǎn)業(yè)電子零組件金屬接腳沾錫性試驗前的老化加速壽命時間試驗...