- 測試平臺:精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實現三維移動。
- 探測器:Si-Pin探測器
- 工作原理:利用x射線對金屬表面進行激發(fā),檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大小:φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求:15℃至30℃。
- 電源:交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸:576(W)×495(D)×545(H) mm
鍍銀層厚度測厚儀性能優(yōu)勢
鍍銀層厚度測量儀的精密三維移動平臺
樣本觀測系統(tǒng)
的圖像識別
輕松完成深槽樣品的檢測。
鍍銀層厚度測厚儀打開蓋子后,樣品臺會自動退出,同時Z軸測試平臺會升起,便于放置樣品。
關閉蓋子,推動樣品臺,下降Z軸測試平臺并自動完成對焦。
直接點擊場景或局部圖像以選擇測試點;
點擊軟件界面上的測試按鈕,系統(tǒng)會自動執(zhí)行測試并展示結果。
鍍銀層厚度測量儀配備四種微孔聚焦準直器,并具有自動切換功能。
雙重保護機制,確保無縫防撞。
使用大尺寸高分辨率探測器,降低檢測限,提高測試的準確性。
自動智能控制方法,按鍵操作!
開機時自動進行自檢和復位。
鍍銀層厚度測量儀的技術參數
SDD探測器:分辨率可達135eV。
分析的元素范圍包括硫(S)到鈾(U)。
鍍銀層厚度測厚儀。
同時檢測超過24種元素,支持最多5層的鍍層。
X射線金屬鍍層測厚儀的分析含量范圍一般為2ppm至99.9%。
鍍層厚度通常在50μm以內(具體根據材料的不同而有所差異)。
微孔準直技術:可實現小至0.1mm的孔徑和光斑。
樣品觀察:配備了兩個工業(yè)高清攝像頭,分別用于景觀和局部觀察。
準直器包括四種組合:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm和Ф0.3mm。
操作環(huán)境濕度要求:不超過90%
操作環(huán)境溫度范圍:15℃至30℃
儀器尺寸為:寬690毫米 x 深575毫米 x 高660毫米。
樣品室的尺寸為:520毫米(寬)x 395毫米(深)x 150毫米(高)。
樣品臺的尺寸為:393毫米(寬)x 258毫米(深)
鍍銀層厚度測厚儀是天瑞儀器的優(yōu)勢產品,突破了外部壟斷,主要用于檢測金屬鍍層的厚度,包括鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銅、鍍銀、鍍銠和鍍鈀等。該儀器廣泛應用于電器、電動工具、汽車配件、高壓開關、制冷設備、精密五金、電鍍加工、衛(wèi)浴產品以及PCB線路板等領域。thick8000是天瑞儀器型號的X射線金屬鍍層測厚儀,配備三維移動平臺和高清射線系統(tǒng),使整個測試過程更加便捷清晰。
廠家介紹
江蘇天瑞儀器股份有限公司專注于光譜、色譜和質譜等分析測試儀器及其軟件的研發(fā)、生產和銷售。
公司的X熒光檢測技術具有快速和無損的優(yōu)勢。X熒光分析儀可廣泛應用于分析從鈉(Na)到鈾(U)之間的各種元素或化合物,適用領域包括:電子電器(RoHS檢測)、珠寶飾品(貴金屬及鍍層檢測)、玩具安全(EN71-3標準)、建材(如水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(鋼鐵和有色金屬)、石油(微量元素如硫和鉛)、化工、地質勘探、商品檢查、質量檢測,甚至還可以用于人體微量元素的檢測等。