EM5030/EM5030LF 與 EM5030E 系列探頭組技術(shù)特點(diǎn)與應(yīng)用解析

在電磁兼容（EMC）干擾定位測試中，探頭組的專業(yè)性直接決定了干擾源排查的精準(zhǔn)度，EM5030/EM5030LF 與 EM5030E 系列探頭組，針對磁場與電場干擾的不同測試需求，構(gòu)建了精細(xì)化的探測解決方案。其中，EM5030/EM5030LF 系列探頭組以磁場探測為核心，整套包含 7 個(gè)專門用于測試磁場（H）的探頭，且采用了高效的電場干擾（E）屏蔽設(shè)計(jì) —— 這一設(shè)計(jì)至關(guān)重要，能有效隔絕測試環(huán)境中電場信號的干擾，確保探頭僅精準(zhǔn)捕捉磁場干擾，避免電場雜波混入導(dǎo)致的測量偏差，為后續(xù)干擾源定位提供純粹的磁場數(shù)據(jù)支撐，尤其適用于電磁兼容整改階段，幫助工程師快速鎖定設(shè)備內(nèi)部的磁場干擾源頭。在頻率覆蓋與探頭形態(tài)上，該系列進(jìn)行了科學(xué)細(xì)分。EM5030 探頭的頻率范圍覆蓋 30MHz-3GHz，對應(yīng)中低頻段的磁場干擾探測，比如無線通信模塊、低頻振蕩器等元件產(chǎn)生的磁場干擾；同時(shí)配備 4 種不同形狀的探頭，可適配不同測試場景 —— 例如尖細(xì)探頭能深入電路板密集元件間隙，扁平探頭則適合覆蓋較大面積的電路區(qū)域，滿足多樣化的探測需求。EM5030LF 探頭則聚焦低頻段磁場干擾，頻率范圍為 9kHz-50MHz，針對電源模塊、電機(jī)驅(qū)動電路等低頻元件產(chǎn)生的磁場干擾，搭配 3 種專用探頭形狀，實(shí)現(xiàn)對低頻磁場信號的精準(zhǔn)捕捉，二者互補(bǔ)覆蓋 9kHz-3GHz 的全頻段磁場探測，讓不同頻率范圍的磁場干擾都無所遁形。與之對應(yīng)，EM5030E 系列探頭組專注于電場（E）干擾探測，整套包含 2 個(gè)專門測試電場的探頭，覆蓋頻率范圍同樣達(dá)到 30MHz-3GHz，可高效查找設(shè)備內(nèi)部的電場干擾源，如高速信號線路、未良好屏蔽的集成電路等產(chǎn)生的電場輻射。為確保測試精度，該系列探頭除核心探測部分外，其余結(jié)構(gòu)均采用屏蔽設(shè)計(jì)，能大減少外部磁場及其他雜波對電場信號探測的干擾，進(jìn)一步提升電場干擾測量的準(zhǔn)確性。在使用便捷性與系統(tǒng)兼容性上，所有系列探頭均通過 50Ω 標(biāo)準(zhǔn)阻抗電纜設(shè)計(jì)，可直接與頻譜儀或示波器連接，無需額外適配轉(zhuǎn)換配件，大幅簡化了測試設(shè)備的搭建流程，降低了操作門檻。在實(shí)際應(yīng)用中，當(dāng)產(chǎn)品的輻射或傳導(dǎo)干擾超出標(biāo)準(zhǔn)限值時(shí)，工程師可借助這些近場探頭，精準(zhǔn)定位產(chǎn)生特定頻率干擾的元件或電路 —— 既能檢測模塊之間的干擾耦合通道，判斷信號是否通過線纜、空間等路徑相互干擾，也能評估系統(tǒng)內(nèi)信號切換速率、RF 電壓等關(guān)鍵參數(shù)，為干擾整改提供數(shù)據(jù)依據(jù)。此外，針對干擾信號較弱、難以直接捕捉的場景，探頭還可與本公司 EM5020A（20dB 增益）或 EM5020B（30dB 增益）前置放大器搭配使用。通過放大器對微弱干擾信號的增強(qiáng)作用，能顯著提高整個(gè)測試系統(tǒng)的靈敏度，讓原本 “隱匿” 的微弱干擾信號清晰呈現(xiàn)，進(jìn)一步拓寬了探頭組在低干擾強(qiáng)度場景下的應(yīng)用能力，為電磁兼容測試與整改提供更全面的技術(shù)支持。低頻磁場探頭低頻磁場探頭低頻磁場探頭低頻磁場探頭