產(chǎn)品簡(jiǎn)介

SNA5000X系列結(jié)合了先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)與用戶友好的界面設(shè)計(jì)。除了標(biāo)準(zhǔn)的高頻測(cè)量功能外，還加入了夾具仿真和去嵌入技術(shù)，確保測(cè)試結(jié)果更加貼近實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景。支持多種掃描方式和校準(zhǔn)方法，確保測(cè)量精準(zhǔn)。廣泛應(yīng)用于有源器件及復(fù)雜系統(tǒng)的測(cè)試驗(yàn)證，是射頻工程師的得力助手。矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀

從S參數(shù)測(cè)試到平衡-不平衡測(cè)試

SNA5000X系列支持在多個(gè)窗口添加多條跡線進(jìn)行全4端口S參數(shù)測(cè)試，并且具備多種顯示格式，比如 Log Mag，Lin Mag，Phase，Delay，Smith，SWR，Polar等，可以方便快捷地分析被測(cè)物的傳輸系數(shù)，反射系數(shù)，駐波比，阻抗匹配，相位，延時(shí)等參數(shù)。在生產(chǎn)線驗(yàn)證天線，濾波器等的特性時(shí)，還可以保存參考跡線或者添加Limit模板進(jìn)行通過(guò)失敗測(cè)試，有利于提高生產(chǎn)效率。

SNA5000X系列還支持端口阻抗變換功能，比如在測(cè)試有源差分放大器時(shí)，可將輸入輸出端口進(jìn)行阻抗變換，從而進(jìn)行差分（平衡）測(cè)量（比如Scc，Sdd，Scd，Sdc等參數(shù)）。 此功能還可應(yīng)用于差分線纜等其他差分類測(cè)試。

眼圖分析

SNA5000X搭載了眼圖功能，眼圖可以反映信號(hào)鏈路上傳輸?shù)臄?shù)字信號(hào)的整體特征，從中觀察出碼間串?dāng)_和噪聲的影響，進(jìn)而估計(jì)系統(tǒng)的優(yōu)劣程度。眼圖分析是高速系統(tǒng)信號(hào)完整性分析的核心，為需要對(duì)高速信號(hào)進(jìn)行時(shí)域分析的客戶節(jié)省了大量成本和時(shí)間。

材料介電特性的表征和測(cè)量

鼎陽(yáng)科技材料測(cè)量的全套解決方案，包括SNA系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、MT材料測(cè)量分析軟件、KWR42A波導(dǎo)校準(zhǔn)件和夾具，可以幫助用戶高效、的表征和測(cè)量材料的介電特性。SNA系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀兼具出色的測(cè)量完整性和經(jīng)濟(jì)適用性，通過(guò)測(cè)量向?qū)е敢脩敉瓿刹牧蠝y(cè)量過(guò)程，測(cè)量結(jié)果可用多種格式繪制，幫助用戶更好地分析測(cè)量結(jié)果，非常適合實(shí)驗(yàn)室、研究機(jī)構(gòu)和教育教學(xué)環(huán)境。

增益壓縮測(cè)量

通過(guò)一次連接、一次校準(zhǔn)完成有源器件在工作頻帶內(nèi)的線性增益、壓縮點(diǎn)增益、壓縮點(diǎn)輸入/輸出功率等壓縮參數(shù)和線性參數(shù)測(cè)量。通過(guò)功率校準(zhǔn)和校準(zhǔn)向?qū)Т_保測(cè)量精度，支持多種掃描方法，包括智能掃描、每個(gè)頻率點(diǎn)的功率掃描和每個(gè)功率點(diǎn)的頻率掃描以適應(yīng)不同的測(cè)試場(chǎng)景、同時(shí)提供線性壓縮、增益壓縮、回退壓縮、X/Y壓縮、飽和態(tài)壓縮等多種壓縮方法，靈活應(yīng)對(duì)復(fù)雜的測(cè)試需求，確保全面、準(zhǔn)確地表征器件的非線性行為