- 測(cè)試平臺(tái):精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
- 探測(cè)器:SDD探測(cè)器
- 工作原理:利用x射線對(duì)金屬表面進(jìn)行激發(fā),檢測(cè)熒光強(qiáng)度來(lái)?yè)Q算成金屬表層的厚度的儀器
- 準(zhǔn)直器大?。?/strong>φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器
- 溫度要求:15℃至30℃。
- 電源:交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸:576(W)×495(D)×545(H) mm
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
鍍金測(cè)厚儀是快速、無(wú)損、測(cè)試電鍍層厚度的儀器,改革開(kāi)放以后,電鍍工業(yè)也進(jìn)入快速發(fā)展時(shí)期,大批境外廠家進(jìn)入中長(zhǎng)三角、珠三角、渤海灣等地區(qū)。十二五期間,電鍍技術(shù)的應(yīng)用熱點(diǎn)將繼續(xù)由機(jī)械、輕工等行業(yè)向電子、鋼鐵行業(yè)擴(kuò)展轉(zhuǎn)移,由單純防護(hù)性裝飾鍍層向功能性鍍層轉(zhuǎn)移,由相對(duì)分散向逐漸整合轉(zhuǎn)移,天瑞儀器是家生產(chǎn)x射線電鍍層測(cè)厚儀的廠家,分析儀器上市企業(yè),打破了外局面。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
鍍金測(cè)厚儀樣品處理方法簡(jiǎn)單或無(wú)處理可快速對(duì)樣品做定性分析對(duì)樣品可做半定量或準(zhǔn)定量分析譜線峰背比高,分析靈敏度高不破壞試樣,無(wú)損分析試樣形態(tài)多樣化(固體、液體、粉末等)設(shè)備可靠、維修、維護(hù)簡(jiǎn)單便捷、低廉的售后服務(wù)保:般測(cè)量個(gè)樣品只需要1~3分鐘,樣品可不處理或進(jìn)行簡(jiǎn)單處理。無(wú)損:物理測(cè)量,不改變樣品性質(zhì)準(zhǔn)確:對(duì)樣品可以分析直觀:直觀的分析譜圖,元素分布幕了然,定性分析速度環(huán)保:過(guò)程中不產(chǎn)生任何廢氣、廢水
鍍金測(cè)厚儀通過(guò)復(fù)雜的數(shù)學(xué)運(yùn)算,計(jì)算出每中元素之間的相互影響系數(shù),對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行修正,能有效提高測(cè)試的度。該軟件不但能計(jì)算出合金鍍層的厚度,可同時(shí)分析出該合金鍍層中各種元素的含量,實(shí)現(xiàn)厚度含量步到位。本儀器門針對(duì)鍍層厚度測(cè)量、鍍層元素的的種類及含量的快速無(wú)損分析而設(shè)計(jì),具如下特點(diǎn):1.微小焦斑X射線測(cè)量系統(tǒng)2.高精度移動(dòng)平臺(tái)及裝置3.大面積高分辨率探測(cè)器 4.采用FPTHICK軟件實(shí)現(xiàn)計(jì)算,實(shí)現(xiàn)對(duì)單鍍層,雙鍍層,三鍍層和合金鍍層的測(cè)試5.防碰撞保護(hù)裝置有效保護(hù)測(cè)試機(jī)構(gòu)和樣品
參數(shù)規(guī)格
型號(hào):Thick 800A元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層。分析含量般為ppm到99.9% 。鍍層厚度般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。多變量非線性回收程序度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm重量:90kg
鍍金測(cè)厚儀工作原理
X射線射到電鍍層表面,產(chǎn)生X射線熒光,根據(jù)熒光譜線元素能量位置及其強(qiáng)度確定鍍層組成及厚度,,測(cè)量鍍層范圍廣,適合細(xì)微面積及超薄鍍層的測(cè)量。
高度定位原理
采用高度定位激光,自動(dòng)調(diào)節(jié)測(cè)試機(jī)構(gòu)的升降運(yùn)動(dòng),保證測(cè)試不同厚度的樣品具有相同的測(cè)試距離,從而保證了結(jié)果的正確性
高度定位激光定位測(cè)試部件與樣品測(cè)試面的距離,遇到不同厚度的樣品,通過(guò)調(diào)整測(cè)試部件來(lái)保證不同厚度樣品與測(cè)試部件的距離。