- 探測器:FAST-SDD
- 電壓:220V
- 分辨率:129eV
- 原理:XRF
- 元素范圍:AL-U
鍍層測厚儀x-ray膜厚分析儀EDX2000A能量色散X熒光光譜儀(全自動微區(qū)薄膜厚度檢測儀)快速對平面、凹凸、轉(zhuǎn)角、曲面等各種簡單復(fù)雜的樣品進(jìn)行對焦分析,滿足半導(dǎo)體、芯片、PCB等領(lǐng)域非接觸微區(qū)鍍層厚度的測試要求。雙激光定位和保護(hù)系統(tǒng)通過自動X軸Y軸Z軸三維移動。
鍍層測厚儀x-ray膜厚分析儀應(yīng)用領(lǐng)域
電鍍行業(yè),電子通信,航天新能源,五金衛(wèi)浴,電氣設(shè)備
汽車制造、磁性材料、貴金屬電鍍、大學(xué)和研究機(jī)構(gòu)等
硬件配置極高
選用Fast-SDD探測器,高達(dá)129eV分辨率,可以準(zhǔn)確地分析每一個元素的特征信號,同樣可以輕松地檢測到復(fù)雜的基材和多層復(fù)雜的涂層。
鍍層測厚儀x-ray膜厚測厚儀結(jié)合大功率X光管,可以很好地保證信號輸出和刺激的穩(wěn)定性,降低儀器故障率。
高精度自動化X、Y、Z軸三維聯(lián)動,更準(zhǔn)確、更快速地實(shí)現(xiàn)測試點(diǎn)的定位(如弧形、弧形、螺紋、球面等)。
設(shè)計(jì)亮點(diǎn)
鍍層測厚儀x-ray膜厚分析儀上照式設(shè)計(jì)可以適應(yīng)更多異形細(xì)微樣品的測試。與傳統(tǒng)的光路相比,信號采集效率提高了兩倍多??勺兘垢呔葦z像頭,組合距離更正系統(tǒng),滿足細(xì)微商品、臺階、深槽、沉孔樣品的測試要求。可編程自動位移平臺,可多點(diǎn)檢測細(xì)微密集型,大大提高樣品測試效率。自帶數(shù)據(jù)校對系統(tǒng)。
軟件界面
人性化的軟件界面,使操作更方便。
鍍層測厚儀x-ray膜厚分析儀中文備注曲線,讓您的操作更容易上手。
實(shí)時監(jiān)控儀器硬件功能,讓您的使用更放心。
江蘇天瑞儀器有限公司是一家擁有自主知識產(chǎn)權(quán)的高新技術(shù)企業(yè),注冊資本49551.1725萬元。擁有蘇州天瑞環(huán)境科技有限公司、北京邦鑫葉巍技術(shù)開發(fā)有限公司、上海貝西生物科技有限公司、天瑞環(huán)境科技(仙桃)有限公司、四川天瑞環(huán)境科技有限公司、河南天瑞環(huán)境科技有限公司、廈門質(zhì)譜儀器有限公司、蘇州智慧天瑞環(huán)??萍加邢薰尽⒑碧烊鹬呛?chuàng)新研究院九家全資子公司、江蘇天瑞環(huán)境科技有限公司、上海天瑞環(huán)境科技有限公司