詢價
- 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
- 探測器：Si-Pin探測器
- 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發(fā)，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大小：φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
X射線熒光納米測厚儀產(chǎn)品介紹
X射線測厚儀是一種檢測金屬涂層厚度的工業(yè)儀器，是一種無損檢測設備。它具有X射線原理、檢測速度快、檢測精度高等優(yōu)點，被廣大電鍍廠選用。它是一種功能強大的儀器，配備了門到門開發(fā)的軟件，可以說是涂料行業(yè)的一種展示能力。Thick-800AX瑩光測厚儀是天瑞集多年的經(jīng)驗。該儀器用于涂料行業(yè)，可自動軟件操作，可多點檢測。軟件控制設備的測試點和移動平臺。
參數(shù)規(guī)格
X射線熒光納米測厚儀型號：Thick-800A
元素分析范圍為硫(S)到鈾（U）。
同時可分析30多種元素，五層涂層。
ppm到99.9%的分析含量。
涂層厚度一般為50μm以內(nèi)(每種材料不同)
X射線瑩光納米測厚儀可選擇多種分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校準模型。
多變量非線性回收程序
X瑩光測厚儀的溫度適應范圍為15℃至30℃。
電源:交流220V±5V,建議配備交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H)mm
樣品室大小：500(W)×350(D)×140(H)mm
重量：90kg
產(chǎn)品特點
X射線瑩光納米測厚儀開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺、探測器和x光管上下移動，實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位設備。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子線路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機和噴碼機
主要優(yōu)點
X射線瑩光納米測厚儀滿足不同厚度樣品和不規(guī)則表面樣品的測試要求
φ0.1mm小孔準直器能滿足細微測試點的需要
高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度低于0.005mm
選用高度定位激光，可準確定位檢測高度
定位激光確定定位光點，確保測試點與光點對齊
鼠標可以控制移動平臺，鼠標點擊的位置是被測點
高分辨率探頭使分析數(shù)據(jù)更加強大
良好的射線屏蔽效果
檢測口高度敏感性傳感器保護
產(chǎn)品用途
測量金屬涂層厚度，測定電鍍液和涂層含量。
X射線瑩光納米測厚儀主要用于貴金屬加工及裝飾加工行業(yè)；銀行、裝飾營銷及檢測中心；電鍍行業(yè)。
