詢價(jià)
- 測(cè)試平臺(tái)：精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
- 探測(cè)器：SDD探測(cè)器
- 工作原理：利用x射線對(duì)金屬表面進(jìn)行激發(fā)，檢測(cè)熒光強(qiáng)度來(lái)?yè)Q算成金屬表層的厚度的儀器
- 準(zhǔn)直器大小：φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
熒光測(cè)厚儀Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)。它是涂料行業(yè)的一種儀器，可以通過軟件控制設(shè)備的測(cè)試點(diǎn)和移動(dòng)平臺(tái)進(jìn)行全自動(dòng)軟件操作和多點(diǎn)檢測(cè)。是一種功能強(qiáng)大的儀器，配合門開發(fā)的軟件，在涂料行業(yè)可謂施展才華。
熒光測(cè)厚儀應(yīng)用領(lǐng)域
鐵基－－－－□Fe/Zn,□Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni，
□Fe/Cu/Ni/Cr，□Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag
銅基－－－－-□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr
鋅基－－－－-□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au
鎂鋁合金－－－－□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au
塑膠基材－－－－plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr
熒光測(cè)厚儀
應(yīng)用
1快速:一般測(cè)量樣品只需30SS～300S，樣品可不處理或簡(jiǎn)單處理；
2無(wú)損：物理測(cè)量，不改變樣品特性；
3：樣品可分析；
4直觀：直觀分析譜圖，元素分布場(chǎng)景清晰，定性研究速度快；
5環(huán)保：檢測(cè)過程中無(wú)廢氣、污水。
儀器配備
1硬件：一臺(tái)主機(jī)，包括以下主要部件：
(1)X光管(2)半導(dǎo)體探測(cè)器
(3)放大電路(4)樣品移動(dòng)平臺(tái)
(5)高清攝像頭(6)高壓系統(tǒng)
(7)上照，開放式樣品腔(8)雙激光定位
(9)玻璃屏蔽罩
2軟件：天瑞X射線熒光光譜儀Fpthick分析軟件V1.00
3每臺(tái)計(jì)算機(jī)，每臺(tái)打印機(jī)
計(jì)算機(jī)(品牌、P4、液晶顯示)、打印機(jī)(佳能、彩色噴墨打印機(jī))
4資料：使用說明書（包括軟件操作說明書和硬件使用說明書）、出廠檢驗(yàn)證書、貨運(yùn)單、保修單等應(yīng)提供各一份材料。
5標(biāo)準(zhǔn)配件
準(zhǔn)直孔：0.1X1.0mm(已內(nèi)置于儀器中)
熒光測(cè)厚儀 參數(shù)規(guī)格
1分析要素范圍：S-U
2同時(shí)可分析5層以上涂層
3分析薄厚檢出限達(dá)0.005μm
4多次測(cè)量的重復(fù)性可達(dá)0.01μm
5定位精度：0.1mm
6測(cè)量時(shí)間：30s-300sss
7計(jì)數(shù)：1300-8000cpsps
8Z軸升降范圍：0-140mm
9X/Y平臺(tái)可移動(dòng)行程：50mm(W)×50mm(D)
x-瑩光測(cè)厚儀的功能特點(diǎn)
1滿足不同厚度樣品和不規(guī)則表面樣品的測(cè)試要求；
2φ0.1mm小孔準(zhǔn)直器能滿足細(xì)微測(cè)試點(diǎn)的需要；
3移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位精度小于0.005mm；
4選用高度定位激光，可準(zhǔn)確定位檢測(cè)高度；
5定位激光定位光點(diǎn)，確保測(cè)試點(diǎn)與光點(diǎn)對(duì)齊；
6鼠標(biāo)可以控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置是被測(cè)點(diǎn)；
7高分辨率探頭使分析數(shù)據(jù)更多；
8良好的射線屏蔽效果；
9檢測(cè)口高度敏感性傳感器保護(hù)
