- 測(cè)試平臺(tái):精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
- 探測(cè)器:Si-Pin探測(cè)器
- 工作原理:利用x射線對(duì)金屬表面進(jìn)行激發(fā),檢測(cè)熒光強(qiáng)度來(lái)?yè)Q算成金屬表層的厚度的儀器
- 準(zhǔn)直器大?。?/strong>φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器
- 溫度要求:15℃至30℃。
- 電源:交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀尺寸:576(W)×495(D)×545(H) mm
能量色散型XRF鍍層分析儀是天瑞公司經(jīng)過(guò)多年經(jīng)驗(yàn)研發(fā)的一款專門針對(duì)鍍層行業(yè)的儀器。該儀器支持全自動(dòng)軟件操作,能夠進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)試,由軟件控制測(cè)試位置和移動(dòng)平臺(tái)。它功能強(qiáng)大,配合專為其設(shè)計(jì)的軟件,在鍍層領(lǐng)域表現(xiàn)出色。
詳情介紹
能量色散型XRF鍍層分析儀的性能特點(diǎn)
滿足各種厚度和不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求。
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器能夠滿足微小測(cè)試點(diǎn)的要求。
高精度移動(dòng)平臺(tái)能夠定位測(cè)試點(diǎn),其重復(fù)定位精度小于0.005毫米。
使用高精度激光,可以自動(dòng)確定測(cè)試的高度。
能量色散型XRF鍍層分析儀通過(guò)激光定位來(lái)確定測(cè)試點(diǎn),以確保測(cè)試位置與光斑對(duì)齊。
鼠標(biāo)可以用來(lái)控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置即為待測(cè)點(diǎn)。
高分辨率探頭能夠提升分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。
優(yōu)良的輻射屏蔽效果
測(cè)試口高度敏感傳感器的保護(hù)措施
能量色散型XRF涂層分析儀的技術(shù)參數(shù)
型號(hào):厚型800A
元素分析的范圍包括從硫(S)到鈾(U)。
一次可以同時(shí)分析多達(dá)24種元素,具有五層鍍層。
分析的檢出限達(dá)到2ppm,薄膜的測(cè)試厚度可達(dá)到0.005μm。
分析含量通常在2ppm到99.9%之間。
鍍層的厚度通常不超過(guò)50微米(具體視材料而定)。
可以選擇的多個(gè)分析與識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)修正模型
多變量非線性回歸程序
多次測(cè)量的重復(fù)性可達(dá)到0.1%。
長(zhǎng)期工作的穩(wěn)定性可達(dá)到0.1%。
適宜的溫度范圍為15℃至30℃。
電源要求:交流220V±5V,建議使用交流凈化穩(wěn)壓電源。
儀器尺寸為:寬576毫米 x 深495毫米 x 高545毫米。
體重:90公斤
標(biāo)準(zhǔn)配置
開(kāi)放式樣品室。
能量色散型XRF鍍層分析儀配備了精密的二維移動(dòng)樣品平臺(tái),同時(shí)具備可上下移動(dòng)的探測(cè)器和X光管,實(shí)現(xiàn)三維位移。
雙激光定位系統(tǒng)。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin 探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)和噴墨打印機(jī)
應(yīng)用領(lǐng)域
對(duì)黃金、鉑金、白銀等貴金屬及各種珠寶首飾進(jìn)行成分檢測(cè)。
金屬鍍層厚度的測(cè)量以及電鍍液和鍍層成分的分析。
能量色散型XRF鍍層分析儀主要應(yīng)用于貴金屬加工與珠寶制作行業(yè),銀行、珠寶銷售及檢測(cè)機(jī)構(gòu),以及電鍍行業(yè)。