詢(xún)價(jià)
- 測(cè)試平臺(tái)：精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，探測(cè)器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
- 探測(cè)器：SDD探測(cè)器
- 工作原理：利用x射線(xiàn)對(duì)金屬表面進(jìn)行激發(fā)，檢測(cè)熒光強(qiáng)度來(lái)?yè)Q算成金屬表層的厚度的儀器
- 準(zhǔn)直器大?。?/strong>φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器
- 溫度要求：15℃至30℃。
- 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
- 外觀(guān)尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm
天瑞公司研發(fā)的X熒光光譜測(cè)厚儀結(jié)合了多年經(jīng)驗(yàn)，專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)用于鍍層行業(yè)。這款儀器具備全自動(dòng)軟件操作，支持多點(diǎn)測(cè)試，并由軟件控制測(cè)試點(diǎn)及移動(dòng)平臺(tái)。作為一款功能強(qiáng)大的儀器，配合專(zhuān)為其開(kāi)發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中表現(xiàn)優(yōu)異。
詳情介紹
性能特點(diǎn)
X熒光光譜測(cè)厚儀能夠滿(mǎn)足不同厚度及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求。
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器能夠滿(mǎn)足微小測(cè)試點(diǎn)的要求。
高精度移動(dòng)平臺(tái)能夠定位測(cè)試點(diǎn)，重復(fù)定位的精度小于0.005毫米。
X熒光光譜測(cè)厚儀使用高精度激光定位，能夠自動(dòng)確定測(cè)試高度。
使用定位激光來(lái)確定光斑位置，以確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊。
鼠標(biāo)可以控制移動(dòng)平臺(tái)，點(diǎn)擊鼠標(biāo)的位置即為測(cè)量點(diǎn)。
高分辨率探頭能夠提高分析結(jié)果的準(zhǔn)確性。
優(yōu)良的射線(xiàn)防護(hù)效果
測(cè)試口的高度敏感性傳感器保護(hù)措施
天瑞廠(chǎng)家THICK800A測(cè)厚儀的技術(shù)參數(shù)。
型號(hào)：厚型800A
元素分析的范圍涵蓋從硫（S）到鈾（U）。
可同時(shí)分析超過(guò)30種元素，并具備五層鍍層的能力。
分析含量通常在ppm到99.9%之間。
X熒光光譜測(cè)厚儀測(cè)量的鍍層厚度通常在50微米以?xún)?nèi)（不同材料的厚度可能會(huì)有所不同）。
可以選擇的多種分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基底效應(yīng)修正模型。
多變量非線(xiàn)性回收方法
適用溫度范圍為15℃到30℃。
電源要求：交流電220V±5V，建議使用交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀(guān)尺寸： 576毫米（寬）× 495毫米（深）× 545毫米（高）
樣品室的尺寸為500毫米（寬）×350毫米（深）×140毫米（高）。
體重：90公斤
X熒光光譜測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)配置
開(kāi)放式樣品室。
精密的二維移動(dòng)樣品平臺(tái)，配備可上下移動(dòng)的探測(cè)器和X光管，從而實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)功能。
雙激光定位設(shè)備。
鉛玻璃防護(hù)罩。
Si-Pin探測(cè)器是一種探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源設(shè)備。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
電腦和噴墨打印機(jī)
應(yīng)用領(lǐng)域
對(duì)黃金、鉑金、銀等貴金屬及各種首飾的成分進(jìn)行檢測(cè)。
金屬涂層的厚度測(cè)量以及電鍍液及涂層成分的分析。
X熒光光譜測(cè)厚儀主要應(yīng)用于貴金屬加工和珠寶制作行業(yè)，以及銀行、珠寶銷(xiāo)售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)，此外還適用于電鍍行業(yè)。
